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随着 XRD 衍射仪技术的不断进步，数据处理与分析方法也日益完善。早期的 XRD 数据处理主要依赖人工判读衍射图谱，准确性和效率较低。如今，专业的数据分析软件不断涌现，这些软件具备自动寻峰、扣除背景、积分强度计算等功能，极大提高了数据处理速度和准确性。利用全谱拟合技术，能够对复杂的 XRD 图谱进行精确分析，同时确定多种物相的含量、晶格参数等信息。机器学习算法也逐渐应用于 XRD 数据处理，通过对大量已知样品的 XRD 图谱学习，实现对未知样品物相的快速准确识别，还能预测材料的某些性能，为科研人员节省大量时间和精力，加速科研进程 。LYNXEYE XE-T主要用于0D、1D和2D数据采集，具有始终有效的出色能量鉴别能力，同时不会损失二级单色器信号。上海物相定量分析XRD衍射仪配件
D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW线焦点X射线源，其能耗极低，无需外设水冷，对实验室基础设施亦无特殊要求。您只需准备家用壁式插座即可。因此，您将能简单快捷地完成安装和定位。D8ADVANCEECO将在分析性能不打折扣的前提下，将拥有成本和立式XRD仪器的生态足迹降至。插件分析：无需外设水冷：每年可节约高达1.700m3的自来水耗电减少50％左右需单相电源，由于具有出色的适应能力，使用D8ADVANCE，您就可对所有类型的样品进行测量：从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。无论是新手用户还是专业用户，都可简单快捷、不出错地对配置进行更改。这都是通过布鲁克独特的DAVINCI设计实现的：配置仪器时，免工具、免准直，同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。布鲁克提供基于NIST标样刚玉（SRM1976）的准直保证。目前，在峰位、强度和分辨率方面，市面上尚无其他粉末衍射仪的精度超过D8ADVANCE。上海结构精修检测分析从微米到纳米厚度的涂层或外延膜的样品都受益，用于评估晶体质量、薄膜厚度、成分外延排列和应变松弛技术。
同步辐射 XRD 衍射仪凭借其独特特性，在科研领域大放异彩。与传统 XRD 衍射仪相比，同步辐射光源具有高亮度、高准直性、宽频谱以及偏振性等优势。其高亮度使得能够对微量样品或对弱衍射信号的样品进行精确分析，检测灵敏度大幅提升。宽频谱特性让科研人员可根据实验需求选择合适波长的 X 射线，优化实验条件。在材料科学研究中，同步辐射 XRD 衍射仪用于研究材料在极端条件下，如高温、高压、强磁场环境中的晶体结构变化。在生命科学领域，可用于解析生物大分子的晶体结构，为药物研发、疾病机理研究等提供关键数据支持，拓宽了 XRD 衍射技术的应用边界 。
超薄HfO2薄膜XRR测试引言随着晶体管节点技术的发展，薄膜厚度越来越薄。比如高-栅介电薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在该技术节点的a20范围内。超薄膜的均匀性是制备Hf基栅氧化物的主要工艺难题之一。为了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度，XRR是的测量技术。由于具有出色的适应能力，使用D8ADVANCE，您就可对所有类型的样品进行测量：从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。无论是新手用户还是专业用户，都可简单快捷、不出错地对配置进行更改。这都是通过布鲁克独特的DAVINCI设计实现的：配置仪器时，免工具、免准直，同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。不止如此——布鲁克提供基于NIST标样刚玉（SRM1976）的准直保证。目前，在峰位、强度和分辨率方面，市面上尚无其他粉末衍射仪的精度超过D8ADVANCE。而有了UMC样品台的加持，D8 DISCOVER更是成为了电动位移和重量能力方面的同类较好。
一台性能优良的 XRD 衍射仪，具备一系列关键技术参数。X 射线发生器的稳定度至关重要，它不仅关系到所测衍射强度的准确可靠，还影响所有部件的准确性与稳定性。现代粉末衍射仪的光源稳定性通常要求在外电源变化 10% 以内时，输出变化在 0.01% 以内。X 射线管的功率因靶材不同而有所差异，例如密封式 X 射线管，铜靶一般为 2kW，银、钼、钨等靶一般大于 2kW，而钴、铁、镍等靶则小于 2kW，转靶常用功率有 12kW 和 18kW。单色器的效率应不小于 25%，探测器的效率视品种而定。计数的线性范围关系到强度测量的准确性，一般在一定的计数率范围（cps）内。此外，衍射角（2θ）的测量准确度和精确度、分辨率（常用硅（311）衍射峰的半高宽来表示，一般实验室粉末衍射仪此值约在 0.05° - 0.1° 之间）等参数，也直接影响 XRD 衍射仪的测试性能。PATHFINDERPlus光学器件有一个确保测得强度的线性的自动吸收器，并可在以下之间切换：电动狭缝，分光晶体。上海单晶衍射仪检测分析
更换光学期间时，无需工具，亦无需对光，因此您可轻松快速地更改配置。上海物相定量分析XRD衍射仪配件
薄膜和涂层薄膜和涂层分析采用的原理与XRPD相同，不过进一步提供了光束调节和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鉴别、晶体质量、残余应力、织构分析、厚度测定以及组分与应变分析。在对薄膜和涂层进行分析时，着重对厚度在nm和µm之间的层状材料进行特性分析，从非晶和多晶涂层到外延生长薄膜等。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件可进行以下高质量的薄膜分析：掠入射衍射X射线反射高分辨率X射线衍射倒易空间扫描，由于具有出色的适应能力，使用D8ADVANCE，您就可对所有类型的样品进行测量：从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。无论是新手用户还是专业用户，都可简单快捷、不出错地对配置进行更改。这都是通过布鲁克独特的DAVINCI设计实现的：配置仪器时，免工具、免准直，同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。不仅如此——布鲁克提供基于NIST标样刚玉（SRM1976）的准直保证。目前，在峰位、强度和分辨率方面，市面上尚无其他粉末衍射仪的精度超过D8ADVANCE。上海物相定量分析XRD衍射仪配件
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