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上海明策发射率测量仪介绍 诚信为本 上海明策供应

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所在地: 上海市
***更新: 2025-03-05 01:02:50
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产品详细说明

量热法量热法基本原理是:被测样品与周围相关物体共同组成一个热交换系统,根据传热理论推导出系统有关材料发射率的传热方程,再测出样品有关点的温度值,就能确定系统的热交换状态,从而求出样品发射率。按热交换系数可分为稳态法及瞬态法两大类。(1)常用的稳态量热法是灯丝加热法,该方法测温范围宽,为-50~1000℃。但只能测全波长半球发射率,不能测量光谱或定向发射率。(2)瞬态量热法采用瞬态加热技术(如激光、电流等),使试样温度急剧升高,通过测量试样温度、加热功率等参数,再结合辅助设备测量物体的发射率。优点有:设备相对简单,测量速度快,测温上限高(4000℃以上),精度高,缺点是只能测导体材料。发射率测量仪怎么选?上海明策告诉您。上海明策发射率测量仪介绍

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发射率测量仪还可应用于红外理疗产品和远红外纺织品的检测中。这些产品通常含有能够发射远红外线的材料,通过测量其发射率可以评估其理疗效果和保暖性能。例如,在红外理疗仪、远红外复健器材、远红外功能性保健品以及参杂了远红外颗粒材料的纺织面料等产品中,发射率测量仪都发挥着重要作用。在航天领域,发射率测量仪被用于测量航天热控涂层的法向发射率、半球发射率以及太阳光反射率等参数。这些参数对于评估涂层的热辐射性能、计算其在不同光照条件下的温度范围以及确保航天元器件在极端环境下的稳定运行具有重要意义。上海明策发射率测量仪介绍上海发射率测量仪厂家直销优势。

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在节能建筑领域,发射率测量仪可用于评估建筑材料的热性能,为节能设计和LEED认证提供数据支持。通过测量建筑材料的发射率,可以了解其保温隔热性能,从而优化建筑设计,提高能源利用效率。在实验室环境中,发射率测量仪可用于多种研发试验和质量控制过程。例如,在涂料的质量控制中,通过测量涂层的发射率可以评估其性能是否符合标准;在实验室研发中,发射率测量仪可用于监测反应过程中的温度变化等。上海明策电子科技有限公司的发射率测量仪产品具有广泛的应用场景,涵盖了材料科学、热工测试、红外理疗、航天热控、节能建筑以及实验室研发等多个领域。这些应用场景充分展示了发射率测量仪在科研、生产和质量控制等方面的重要作用。

    把该仪器放在高发射率标准体(黑体)上,设定RD1来表示发射率标准参数;然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品小直径为()。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品小直径为(),可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量,可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头。AE1/RD1红外半球发射率测量仪满足《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔热涂料节能检测标准》中对半球发射率的要求。可快速测量各种固体表面的发射率。半球发射率(hemisphericalemittance):热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全幅射体(黑体)的辐射出射度之比值。原理:加热探测器内的热电堆,使探测器和试板之间产生温差。该温差与试板的发射率呈线性关系,通过比较高、低发射率标准板与试板表面温差的大小,得出试板的发射率。 上海发射率测量仪的规格介绍。

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15R-RGB便携式多波长镜面反射率产品特点:

USB:提供了一个USB端口,用于维护和下载数据集以及升级固件。

光源:高度白光发光二极管(400-800nm)。该光源以90Hz的频率进行斩波,消除了杂散光问题。

光学:LED光源安装在一个小孔径后面,提供近点光源。这通过会聚透镜准直成光束。一个相同的透镜将反射光束聚焦到收集孔中。

滤光片选择:通过滤光轮选择宽带红、绿、蓝和红外滤光片。一个额外的过滤器位置未经过滤,用于在白光LED的全光谱上进行测量。

孔径选择:五个孔径提供4.6、7、15、25和46毫弧度的全接收角。

对准系统:三个螺纹支撑提供调整,使反射光束与接收光学器件对准,并补偿第二表面反射器的不同厚度。

校准标准:工作标准安装在连接到仪器底座的保护外壳中。

分辨率:一个3½位LCD显示屏直接指示反射率为0.1%。增益调节旋钮允许用户使用工作标准校准仪器。

重复性:+/-0.002反射单位。

工作温度:32至122F(0至50C)。 上海明策的发射率测量仪怎么样?上海明策发射率测量仪介绍

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根据能量守恒定律及基尔霍夫定律,只要将已知强度的辐射能投射到被测的不透明样品表面上,并用反射计测出表面反射能量,即可求得样品的反射率,进而计算发射率。多波长辐射测温法是在一个仪器中制成多个光谱通道,利用多个光谱的物体辐射亮度测量信息,假定发射率和波长关系模型,经过数据处理得到物体的温度和材料的光谱发射率。单独黑体法采购标准黑体炉作为参考辐射源,样品与黑体是各自单独的,辐射能量探测器分别对它们的辐射进行测量。测量材料全波长发射率时,探测器需要选择使用无光谱选择性的温差电堆或热释电等器件;测量材料光谱发射率时,需要选择使用光子探测器并配备特定的单色滤光片。上海明策发射率测量仪介绍

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