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STRONG系列双色测温仪通过测量两个不同波长能量的比值来确定物体的温度，先进的软、硬件设计，可满足在水汽、灰尘、目标大小变化、部分被遮挡、发射率变化等环境中，即使检测信号衰减95%，也不会对测温结果有任何影响。它除适用于一般工业场合的温度测量外，也适用于远距离测量小目标、发射率易变化的材料以及有强烈衰减的场合精确温度的测量。STRONG系列双色红外测温仪可应用于中、高温2000℃以下双色测温需求，如：线棒材、热轧板、锻造、铸造、水泥窑、热处理、感应加热、单晶硅和多晶硅等各种工业场合温度的测量。也可以应用于真空炉、石墨炉、高温炉等超高温3000℃以下双色测温的应用，并具有较高的稳定性。红外测温仪的应用覆盖冶金、石化、半导体等多个行业。合肥品牌高温计欢迎选购
在超高温、高速变化的测温场景（如激光加热、等离子体实验）中，单一测温模式可能无法完整反映温度状态，常州思捷的 EX-SMART 系列光纤双色红外测温仪，创新 “三模式测温” 功能（双色 2C、单色宽波段 1CB、单色窄波段 1CS），相当于 3 台测温仪同时工作，通过多维度数据验证，为高精度测温提供双重保障。三模式测温的优势在于 “互补与验证”：双色模式主打抗干扰，通过两个波长的能量比值计算温度，可抵御灰尘、水汽、目标遮挡的影响，适合复杂环境的基础测温；单色宽波段模式（1CB）覆盖较宽的波长范围，测量区域更大，适合获取目标平均温度，可与双色模式的结果对比，验证数据一致性；单色窄波段模式（1CS）波长范围窄，分辨率更高，能准确捕捉目标局部微小区域的温度（如激光加热的焦点温度），适合需要细节监控的场景。合肥品牌高温计欢迎选购红外测温仪无需接触介质，适合腐蚀性环境测量。
距离系数（D/S）作为红外测温仪的关键参数，直接决定安装距离与测量精度，其定义为测量距离（D）与目标蕞小直径（S）的比值，反映仪器的光学分辨率。思捷旗下全系列产品覆盖 30:1、60:1、100:1、200:1 等多种距离系数，如 STRONG-GR-2512 的 30:1 适配近距离小目标，MARS-S-7030 的 200:1 适配远距离大目标测量。选型时需根据目标大小与安装空间计算，例如目标直径 10mm，选用距离系数 100:1 的仪器，安装距离需≤1000mm（D=S×100=10×100=1000mm），确保目标完全充满视场（单色模式需≥20%，双色模式无强制要求）。若安装距离超限，会导致测量温度偏低或数据波动，如钢铁厂线材测量需选用 200:1 距离系数，在 5m 安装距离下仍能准确捕捉 5mm 直径线材的温度。不同系列的距离系数适配场景明确：光纤式产品（如 EX-SMART-F 系列）因光纤传导特性，距离系数更灵活，可在狭窄空间远距离测温；便携机芯式（如 MARS 系列）则通过可调焦镜头扩展适用范围，标准焦距 0.45m 至无穷远，近焦距 0.25m~0.65m 可调，兼顾多种安装需求。
常州思捷光电的 STRONG 系列双色红外测温仪，凭借 “双色 + 单色” 双模切换的优势，成为冶金、半导体、玻璃等行业高精度测温的优先选择。该系列细分为 STRONG-SR 与 STRONG-GR 两大子系列，测温范围覆盖 250℃~3200℃（分段），可准确匹配不同温度区间的工业需求 ——SR 系列测温达 3200℃，适配高温炉、石墨炉、激光加热等超高温场景；GR 系列温度低至 250℃，适合有色金属加工、镀锌线、退火炉等中低温工况。在技术性能上，STRONG 系列的距离系数从 30:1 到 200:1 不等，高距离系数（如 200:1）型号能实现远距离小目标测量，例如在型钢轧制中，可准确捕捉线棒材的瞬时温度变化。探测器采用叠层硅（Si/Si）或叠层铟镓砷（InGaAs/InGaAs），搭配特殊设计的窄带红外滤片，测量精度达 ±0.5% T（T 为测量温度值），分辨率 0.1℃，重复精度 ±2℃，即使在信号衰减 95% 的情况下，仍能保持测温稳定。探测器加热温度默认 40℃，40℃~60℃可选。
适用场景的差异更为明显：单色仪适合 “理想工况”—— 被测目标面积大（能充满视场）、表面平整且理化状态稳定（无氧化、气化）、光学通道洁净，例如热处理炉中大型工件的均匀测温，MARS 系列凭借高性价比成为这类场景的优先选择；双色仪则主打 “复杂工况”，如钢铁连铸中快速移动的小目标、玻璃窑的高粉尘环境、半导体长晶炉的局部遮挡场景，STRONG 系列的双色模式能有效规避干扰，确保数据可靠。此外，双色仪通常具备模式切换功能（如 STRONG 系列可切换单色模式），灵活性更高；而单色仪在常规场景下成本更低、操作更简便。工业用户选型时，需结合测温环境的干扰程度、目标大小、精度要求综合判断 —— 复杂环境优先选双色（如 STRONG），常规稳定场景可选单色（如 MARS），确保设备性能与需求准确匹配。MARS 系列单色款，小巧便携易安装。如何选高温计
标准黑体校准，确保红外测温仪数据准确性。合肥品牌高温计欢迎选购
半导体制造对温度精度要求较高，思捷光电提供覆盖晶圆加工、薄膜沉积、长晶等环节的精密测温方案。晶圆加工阶段，蚀刻与沉积温度需控制在±1℃以内，EX-SMART系列光纤双色仪（350℃~3300℃）以1ms响应捕捉温度细微变化，三模式测温对比分析数据，抗电磁干扰设计适配光刻机等设备。第三代半导体长晶炉测温选用STRONG-SR系列双色仪（700℃~3200℃），准确监测炉内温度，形成工艺曲线，保障晶体质量；薄膜沉积环节，MARS-G系列（300℃~2500℃）监测沉积温度，确保薄膜厚度均匀。设备支持以太网通讯，与半导体自动化系统联动，实现温度闭环控制，提升产品良率。合肥品牌高温计欢迎选购
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