JT400轴对准测试系统外观图Inframet设计生产的用于测试多传感器监控系统的MS系列测试系统不仅支持这些监控系统的扩展性测试,也支持轴对准测试。然而,MS系列测试系统是相对昂贵镐端的测试系统。
JT多传感器轴对准测试系统是相对经济的系统,用于**的轴对准测试以及光电多传感器监控系统的基本参数测试。测试功能:1.不同视场的热像仪的轴对准;2.不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准;3.可见光-近红外相机与热像仪之间的轴对准;4.激光测距机与可见光-近红外相机之间的轴对准;5.激光测距机与热像仪之间的轴对准;6.激光指示器与可见光/近红外相机以及热像仪之间的轴对准;7.可见光/近红外相机的分辨率/灵敏度;8.热像仪的分辨率;9.激光测距机的发散角;10.参考光轴与参考机械轴(平面)的对准误差。 智能校准,热成像更稳定清晰,基数参数调整,守护升级!上海黑体热成像校准系统
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经典热图像与可见光图像的融合成像系统拥有更强的监视能力。融合系统通常使用一个多传感器成像系统,由一个热像仪和一个可见光相机(或夜视设备和可见光相机)组成,图像的融合可以采用光学方法或数字图像处理方法。由于各种原因,生成高分辨率融合图像较为困难,其中一个原因是需要校正不同成像传感器产生的图像的畸变和放大程度的差异,优化图像校正算法需要对所有成像传感器均可见的已知几何形状的特定目标进行研究。Inframet提供支持双通道融合图像的棋盘式FUT靶标,能够发射热辐射(靶标实际上是一个调节均匀温度的大面积辐射源),也能反射可见光/近红外范围内的入射辐射。因此,无论是在中波红外/长波红外范围内工作的热像仪,还是在可见光/近红外范围内工作的夜视仪/相机,都可以看到相同图像。该靶标可用于确定热成像相对于可见光图像的空间位移二维图。上海热成像校准系统厂家科技护航,Inframet OPO 望远瞄准测试系统,基数参数精确,安全无忧!
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OPO望远瞄准测试系统是一套用于测试光学瞄准系统的模块化多功能测试系统,OPO测试系统支持一系列重要参数的测试:分辨率,MTF(轴上,离轴),放大率,畸变,视场,透过率,渐晕,出瞳距离,出瞳直径,屈光度范围,视差等。被测望远瞄准系统可以由这些参数来表征其性能。OPO测试系统对于望远瞄准系统的生产商,采购商或者维修站来说都是比较好的测试工具。OPO系统是人工由操作计算机系统的概念建立的,该系统可以对被测望远镜瞄准具生成的参考图像进行分析。简单的手工操作设计理念,模块化设计,可靠性高,使用寿命长。
VSB黑体是设计用来在环境温度为-173ºC至-33ºC的冷却真空室中工作时,模拟低/中温目标(-10℃至+200℃)的面源黑体。换句话说,VSB黑体是用于在太空环境条件下,模拟地球上的温度目标。VSB黑体的发射器面积尺寸从50x50mm到150x150mm。发射器的温度由紧贴发射器的加热元件阵列来调节。使用超准确算法进行温度稳定控制。VSB黑体针对长距离控制进行了优化,位于真空室内的黑体可以从位于真空室外的PC控制。此外,黑体经过优化,可与MRW-8轮集成配套使用。提升热成像清晰度,NVS夜视设备多功能测试系统基数参数是关键,夜视新体验!
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BLIQ黑体是使用三个温度调节器构建的。首先,标准Peltier元件能够在约0ºC至约100ºC范围内实现准确的温度调节。第二,液体冷却器用于将黑体温度降低到零度以下。第三,当温度超过100ºC时,可选加热器进行调节温度。BLIQ黑体附有专业用罩。当使用干燥氮气填充时,该罩可以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝的影响。BLIQ黑体的特点是具有优异的温度分辨率、时间稳定性、温度均匀性和温度不确定性。所有这些功能使得BLIQ黑体被用作测试/校准热成像仪/IRFPA模块系统中的红外辐射源的理想选择,或国家标准实验室的温度标准。科技守护,热成像校准系统,基数参数优化,安全再升级!上海热成像校准系统厂家
Inframet OPO 望远瞄准测试系统新突破,基数参数精细调整,夜视能力再攀高峰!上海黑体热成像校准系统
IR FPA 传感器(焦平面阵列传感器)指的是对红外光敏感的探测器阵列,这些探测器在位于红外光学镜头焦平面时,能够生成二维电子图像。具体来说,市场上提供的 IR FPA 传感器是通过将红外探测器阵列(即原始 IR FPA 传感器)与读取电子系统结合而成的。
FAPA是一个模块化系统,由一系列模块组成,可以配置为创建一系列不同的子系统,用于测量不同参数组。然而,FAPA的所有模块基本上可以分为三类(块):1.放射性测量工具,2.传感器控制/图像处理工具,3.图像采集/计算工具。 上海黑体热成像校准系统
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