可见光靶标主要分为两类:A)反射式靶标,B)透射式靶标。反射式靶标无法提供高精度的靶标图形因此只能用于可见光成像系统简单的评估测试。透射式靶标的精度可以达到次微米级,通常采用在干净的玻璃基板上光刻的方法而得到。Inframet采用USAF1951靶标,其具备很好的通用性,既支持低分辨率相机测试,也同时支持高分辨率相机测试。
产品参数:
参数:数值
图案类型:3杆
图案组数:0到7(可选0-8)
空间频率范围:1-228lp/mm(可选1-456lp/mm)
对比度:百分之二到100%
基板:钠钙玻璃(可选石英)
图形镀膜:铬
靶标板尺寸:23x23mm 热成像新标准,基数参数精细调校,让夜间监控成为您的安全之眼!江苏热成像校准系统特性
INFRAMET SAFT 热成像光电测试系统版本:SAFT所测热像仪一般要满足以下条件:1.所测热像仪的温度范围是0°C到100°C2.被测成像仪具有模拟视频输出3.主要测量被测热像仪的这些参数:accuracy,NETD,SRFandMRTD这样的SAFT设备一般由以下的模块组成:TCB-2D黑体,ARC500屏蔽装置,一组6个4-Bar分辨率片,一个正方形分辨率片,一组6个slit分辨率片,PC,抓帧器,TCB控制软件,TAM软件,DC12V电源。以下可选模块(拓展SAFT设备检测能力):1、TCB-2D黑体升级到HT黑体,可让所测热像仪的温度范围扩大到0°C到180°C。2、可选MTB-2D黑体(0°C到550°C),可让所测热像仪的温度范围扩大到0°C到550°C。3、可选CameraLink(orGigE)抓帧器和其对应的软件,使得SAFT可测具有CameraLink(orGigE)输出的热像仪。4、可选CDT660HR光管,增加设备的长距离模拟功能另外使SAFT可检测中距离,口径5、60mm的热像仪。(还有更大的光管可供选择)。可选Edge分辨率片,FOV分辨率片和TAS-T10软件,使得设备可以检测热像仪的MTF和FOV。江苏热成像校准系统特性科技守护,热成像校准系统,基数参数优化,安全更可靠!
OPO望远瞄准测试系统是一套用于测试光学瞄准系统的模块化多功能测试系统,OPO测试系统支持一系列重要参数的测试:分辨率,MTF(轴上,离轴),放大率,畸变,视场,透过率,渐晕,出瞳距离,出瞳直径,屈光度范围,视差等。被测望远瞄准系统可以由这些参数来表征其性能。OPO测试系统对于望远瞄准系统的生产商,采购商或者维修站来说都是比较好的测试工具。OPO系统是人工由操作计算机系统的概念建立的,该系统可以对被测望远镜瞄准具生成的参考图像进行分析。简单的手工操作设计理念,模块化设计,可靠性高,使用寿命长。
SWIR相机(短波红外)是重要的监控用光电相机。首先,InGaAs技术的发展与成熟促进了低成本短波红外相机的发展;其次,InGaAs相机在非常暗的夜晚会非常灵敏因此可以生成更为清晰的图像;再次,工作在可见光/近红外波段的短波红外相机相比与TV/LLLTV相机来说在不洁净的空气环境中不容易损坏;另外,短波红外相机比起红外热像仪来说在使用小光学系统可以生成更高分辨率的图像。
短波红外相机与TV/LLLTV相机原理类似,也是利用被观察的目标产生的辐射反射来获取图像。同时,短波红外相机也可以利用被测试目标产生的热辐射生成与红外热像仪类似的图像。根据以上功能描述,短波红外相机的测试可以依据测试TV/LLLTV相机原理或者根据红外热像仪测试原理进行。InGaAs FPAs的参数也可以用来表征短波红外相机。 智能校准, INFRAMET SIM 热成像光电测试系统基数参数准确无误,守护每一份安宁!
Ls-dAL光源是多通道标准光源,有四种工作模式,具有的动态范围、可连续调节光强度(能够模拟超亮的白天和黑夜)、计算机化设计,可用于测试可见光-短波红外相机(彩色/单色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相机、短波红外相机),用于中/远程监测应用。
工作模式①卤素灯,色温2856K,模拟夜晚和典型的白天②白光LED,色温超过5000K,模拟极亮的白天③镐强度紫外LED,检测抗紫外线的能力
总量度范围10mcd/m2-10kcd/m2–D(白天版本)10μcd/m2-10kcd/m2–DN(白天/夜晚版本)(注:亮度范围可以扩展) 夜视新突破,INFRAMET SAFT 热成像光电测试系统,基数参数优化,细节尽在掌握!江苏热成像校准系统特性
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BLIQ黑体作为TCB系列特殊版本,可以弥补TCB其他型号的不足:大尺寸面源,需要降温到零下-40℃的温度。BLIQ也有一些限制条件:需要连接BLIQ黑体的安全罩(Inframet可提供)。覆盖罩须装充有干燥的氮气,以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝。用户需要提供干燥的氮气。安全罩不能有任何漏洞以免潮湿热气体进入罩内。测试成像仪的光学镜头必须完全覆盖在罩中的输入孔中。罩长必须至少等于黑体发射面的大小。这意味着被测试的成像仪不能位于距BLIQ黑体发射器很短的距离。江苏热成像校准系统特性
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