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深圳多媒体无线性能分析仪价格 欢迎咨询 扬芯供应

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所在地: 广东省
***更新: 2022-05-03 00:42:16
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产品详细说明

辐射近场测量的研究:为了反映脉冲工作状态和消除环境及其他因素对测量数据的影响,时域测量是一个良好的解决此类问题的途径,但目前处于研究阶段。辐射近场扫频测量的研究:就一般情况而言,天线都在一个频带内工作,因此,深圳多媒体无线性能分析仪价格,深圳多媒体无线性能分析仪价格,各项电指标都是频率的函数,为了快速获得各个频率点的电指标,就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样,只是在探头扫描时,收发测量系统作扫频测量。近场测量对天线口径场诊断的精度和速度:近场测量对常规阵列天线口径场的诊断有较好的诊断精度,深圳多媒体无线性能分析仪价格,但对于很低副瓣天线阵列而言,诊断精度和速度还需要进一步研究。保持讯号路径和它的地返回线紧靠在一起将有助于小化地线环路,避免出现潜在的天线环。深圳多媒体无线性能分析仪价格

EMC、RF诊断分析系统:用较少的资金达到我们想要的目标,研发实验室能力整体规划步骤如下:1.确定研发产品类型,了解产品电气参数及所需的测试项目;2.选择合适的诊断分析方法;3.选择诊断分析工具的类型、仪器设备、测试环境以及对策器件4.实验室日常运营及资料库建立;诊断分析系统具有如下优势:1.适用于EMC、RF问题诊断分析、更换物料、风险评估、降成本方案验证;2.投入产出比高;3.数据可视化、定位精细、分析诊断问题效率高;4.诊断分析系统与标准测试系统互补,更适合产品研发;5.操作简单,降低人员技术门槛。深圳汽车电子无线性能分析仪价格EMI辐射近场探头是用于配合频谱分析仪查找干扰源的设备。

辐射近场测量需要解决的问题:(1)考虑探头与被测天线多次散射耦合的理论公式:在前述的理论中,所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的,这些公式对常规天线的测量有一定的精度,但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素,因此,需要建立严格的耦合方程。(2)近场测量对天线口径场诊断的精度和速度:近场测量对常规阵列天线口径场的诊断有较好的诊断精度,但对于很低副瓣天线阵列而言,诊断精度和速度还需要进一步研究。(3)辐射近场扫频测量的研究:就一般情况而言,天线都在一个频带内工作,因此,各项电指标都是频率的函数,为了快速获得各个频率点的电指标,就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样,只是在探头扫描时,收发测量系统作扫频测量。

集成电路电磁兼容测试解决方案:小型化无线终端产品(如手机、平板智能穿戴产品)的 快速发展,集成电路(IC)体积逐渐向更小更密集的规格演进, 且加上IC运行速率的提升和成本的下降,使得IC EMC问题日 益受到重视,其中包含IC电磁辐射、辐射抗扰、脉冲抗扰以 及EOS失效模拟等测量解决方案已得到行业广泛应用,扬芯 科技立足电磁兼容软硬件自动化测量方案开发经验,现已具 备完整的IC EMC测量解决方案,符合欧洲、美国及日本等标 准测试要求,可提供针对手机、电脑、家电、汽车电子等IC 的EMC测量解决方案。人们周边所有的物体时刻都在进行电磁辐射。

射频抗干扰(Desense)近场电磁扫描诊断分析:可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统使用电场近场探头(H-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe)套装,支持0.01mm分辨率步进电磁扫描,能快速有效的预防、解决接收感度恶化(DegradationofSensitivity)问题,使得产品达到优化设计,满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的射频抗干扰Desense问题自动诊断分析,普遍用于2/3/4/5G手机、蓝牙、WiFi、物联网无线终端模块等行业,在电磁兼容可靠性正向研发、射频抗干扰源头定位、器件选型射频抗干扰评估、更新方案设计的射频抗干扰性能评估、天线仿真验证等方面。(DC-9G)包括4个磁场探头和1个电场探头,所有探头均覆盖绝缘层。深圳GSM辐射杂散解决方案

只有处于可见光频域以内的电磁波,才是可以被人们看到的。深圳多媒体无线性能分析仪价格

EMI认证机构通常按照EMI标准的准峰值检波进行测试,而EMI诊断中往往用峰值检波,两者不匹配,EMI诊断是否还有意义?由于EMI诊断的目的是为了找出EMI的根源,并不需要一定精确的测试,而是需要相对的重复性好的测试。准峰值检波用来检测信号包络加权后的峰值(准峰值),它根据时长和重复率对信号加权。准峰值检波的平均过程需耗费时间,测试时间长,不利于日常诊断。由于准峰值检波测试幅度结果永远小于或等于峰值检波的测试结果,因此在进行EMI诊断时,用峰值检波可以快速发现EMI问题。电源是EMI干扰噪声的主要来源,示波器的电源谐波分析在这类排查工作中很有潜力。深圳多媒体无线性能分析仪价格

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