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深圳日本MIC辐射杂散优势 来电咨询 扬芯供应

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所在地: 广东省
***更新: 2022-04-03 01:15:44
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产品详细说明

辐射杂散预测试系统-TS18产品特点:【便捷化】相对于标准全电波暗室,深圳日本MIC辐射杂散优势,体积小,设计有脚轮,易移动搬迁;【省成本】无复杂工程安装,经济性满足研发或生产批量性预测试需求;【一致性】内置3D转台,测试方式更接近于标准暗室测试方法,测试一致性好;【兼容性】自动化测试系统软件可兼容集成各主流品牌、型号仪器仪表。【扩展性】除RSE外,基于屏蔽箱扩展相应设备和测试软件,可支持SISOOTA、吞吐量、空口DFS性能、RFI自干扰等性能测试,更适用于研发阶段的摸底及分析验证测试。测量优势:■一致性高,方便与标准chamber环境稳定对标,节省研发测试费用;■支持TRP时时侦测,方便debug前后TRP一致性快速确认,保障对策有效性;■双极化全自动切换扫描,深圳日本MIC辐射杂散优势,深圳日本MIC辐射杂散优势,全频段测量效率高(可支持扩展至40GHz);■搭配LNA,可实现高动态测量性能。全部的辐射数据集从近场测量获得的辐射数据集中可获取3D空间中任何点的SPL。深圳日本MIC辐射杂散优势

EMI分析整改方法:在晶片电源接脚、I/O接口、重要讯号介面等位置增加旁路电容,有助于滤除积体电路的开关杂讯。晶片电源接脚增加旁路电容(0.1μF)处理,电容要靠近接脚摆放。讯号线下方的地要完整,要有完整的参考面。讯号电流经过一个低阻抗的路径返还其驱动源,能够有效减小辐射,而且由于地层的遮罩作用,使得电路对外辐射的灵敏度也会降低。如果两个电路的参考电平不一致,就会产生功能问题,如杂讯容限和逻辑开关门限电平紊乱,这个接地杂讯电压就会导致地环路干扰的产生。任何信号的传输都存在一个闭环的回路,当电流从驱动端流入接收端的时候,必然会有一个回流电流通过与之相邻的导体从接收端回流至驱动端,构成一个闭合的环路,而环路的大小却和EMI的产生有着很大的关系,我们都知道,每一个环路都可以等效为一个天线,环路数量或者面积越大,引起的EMI也越强。我们知道,交流信号会自动选取阻抗小的路径返回驱动端,但实际情况中,信号不可能始终保持的理想路径,特别是在高密度布线的PCB板上,过孔,缝隙等都可能降低参考平面理想的特性,而是表现为更复杂的回流形式。深圳单天线无线性能厂家车载导航仪内的DC/DC变换器工作在脉冲状态下,本身就会产生很强的宽带干扰。

可视化EFT抗扰度诊断分析系统—ES26-EFT整体介绍:电子产品在做脉冲群抗扰度测试时,通过电源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干扰,会引起产品的死机、重启、性能功能 下降等异常,甚至会导致直接硬件损坏。在解决此类问题时,比较大的困难在于注入到产品内部的干扰不仅会通过走线串扰到PCB板内部各 敏感电路导致故障,而且会通过电源平面、地平面等传导到电路的各部分,所以很难定位到真实受扰的电路或者器件。可视化EFT诊断分析系统,通过小范围磁场耦合的方式,精确分析敏感电路,量化敏感等级,可视化的呈现敏感区域,可用于产品研发中的EFT问题诊断分析, 快速解决产品问题,提高研发效率和产品质量。

多功能吞吐量性能自动化测试系统— TS6整体介绍:当蓝牙、WiFi无线产品存在设计缺陷时,很容易导致其在使用过程中受到外部环境的电磁干扰。电磁干扰会影响数据传输的稳定性,从而影响用户的体验感。在电磁干扰环境现场进行测试受多方条件制约变得非常困难,通过将现场环境引入实验室环境进行吞吐量性能测试仿真复现问题,对提供性能改进对策具有重要意义。系统环境采用小型化或标准电波暗室,通过自动化测试软件集成矢量源、综测仪、频谱采存放设备、频谱仪、功放、天线、转台、场强仪等设备,实现对无线产品的电磁干扰发射强度控制和吞吐量等性能指标的监控,支持客户自定义监控需求。EMI辐射近场探头适合任何频谱分析仪示波器或EMI测试接收机,频率范围超宽,满足您测量需求。

可视化近场辐射诊断分析系统—ES67产品特点:【高效】:扫描速度快,测量时间短,自动化测量,省时、高效;【精确】:频率分辨率高、噪声源定位精确,数据准确可信,清楚的分析电磁兼容三要素;【一致】:空间定位精度高,测试数据实时保存,可重复精度高,测量一致性高;【灵敏】:测量系统底噪低,测量灵敏度高,准确测量分析小信号的辐射和干扰问题;【可视】:辐射干扰源分布及噪声位置与芯片、器件、电路走线直接对应,分析结果直观可视;【智能】:较强噪声源、各频率点噪声、全频谱特性等多维度智能分析,自动生成测试分析报告。只有处于可见光频域以内的电磁波,才是可以被人们看到的。深圳4GLTE无线性能实验室

电源是EMI干扰噪声的主要来源,示波器的电源谐波分析在这类排查工作中很有潜力。深圳日本MIC辐射杂散优势

可视化ESD抗扰度诊断分析系统—ES26-ESD整体介绍:电子产品在做ESD抗扰度测试时,一般会出现硬损坏和软失效两类故障现象,对于硬损坏类的故障,需要找到损坏位置、分析干扰传递的路径,并在合适的位置增加或提升防护能力。对于软失效类的故 障,比较大的难点在干扰范围大,干扰路径复杂,无法准确的定位敏感源。可视化ESD抗扰度诊断分析系统,按照IEC 61000-4-2 ESD抗扰度 标准,通过自动控制系统的驱动,用耦合探头对待测物精细的施加干扰,测试过程中,外面监测设备示波器、综测仪等可实时的测量产品受扰后的性能异常,通过测试软件可实时记录静电干扰的量级和产品的性能指标,当性能下降到预设的失效门限,对应的干扰等级和位置就是PCB板上较为敏感的部位。方便的进行受扰源头、抗扰度分析,快速的给出产品级解决方案。深圳日本MIC辐射杂散优势

扬芯科技(深圳)有限公司致力于仪器仪表,是一家生产型公司。扬芯科技致力于为客户提供良好的近场辐射问题解决方案, 辐射抗扰度问题解决方案,辐射杂散预测试系统,射频干扰问题解决方案,一切以用户需求为中心,深受广大客户的欢迎。公司秉持诚信为本的经营理念,在仪器仪表深耕多年,以技术为先导,以自主产品为重点,发挥人才优势,打造仪器仪表良好品牌。扬芯科技立足于全国市场,依托强大的研发实力,融合前沿的技术理念,飞快响应客户的变化需求。

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