[VIP第1年] 指数:3
近场探头在受测设备上方的光学定位可以在数字显微镜的协助下完成，扫描支持防撞功能，在探头沿垂直方向运动触碰到受试设备时停止运动，在电脑上通过ChipScan-Scanner软件可以控制FLS106PCB型扫描仪。这款软件同时可以从频谱分析仪中读取测量数据（2D或3D)图像，以及输出测量数据（CSV文件），深圳韩国KC辐射杂散解决方案。在任何新PCB的开发过程中，设计工程师都必须找出设计之外的辐射体或射频泄漏，深圳韩国KC辐射杂散解决方案，并对其进行描述和处理以通过一致性测试。可能的辐射体包括高速、大功率器件以及具有高密度或高复杂度的器件，深圳韩国KC辐射杂散解决方案。扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性，因此测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。快速磁性极近场测量仪器可以捕获和显示频谱和实时空间扫描结果的可视图像。处理后端输出整流管的吸收电路和初级大电路并联电容的大小。深圳韩国KC辐射杂散解决方案
可视化辐射抗扰度诊断分析系统—IS32产品特点：【高复现】模拟实际失效场景，采用射频干扰耦合注入方式，极大的提高实际问题的复现几率，方便问题分析；【高精度】视觉定位和机械手臂联动运行，高精度的定位敏感源位置，方便分析问题源头和失效机理；【可量化】准确模拟干扰距离、干扰功率、干扰频率等参数，并建立数据与实际问题现象的对应关系，将问题量化；【可视化】敏感源的分布可视化呈现，测量结果与实际产品直接对应；【多功能】可用于板级辐射抗扰度、射频干扰、射频抗扰度等多种复杂抗扰度问题的测量与分析。应用领域：■芯片、器件、模组件辐射抗扰度（RS）测量与诊断分析；■射频抗干扰（Desense）测量与诊断分析；■板级辐射抗扰度（RS）测量与诊断分析；■射频干扰（RFI）测量与诊断分析。深圳单天线无线性能哪里有辐射近场测量的研究是很有意义的，欢迎来电咨询。
EMI设计要点很多初学者对于EMI设计都摸不著头脑，其实我当初也是一样，但是在做了几次设计以后，也逐渐有了一些体会。首先，对于大脑里面一定要清楚一个概念－－在高频里面，自由空间的阻抗是377欧姆，对于一般的EMI中的空间辐射来说，是由于信号的回路到了可以和空间阻抗相比拟的地步，因而信号通过空间“辐射”出来。瞭解了这一点，要做的就是把信号回路的阻抗降下来。控制信号回路的阻抗，主要的办法是缩短信号的长度，减少回路的面积，其次是採取合理的端接，控制回路的反射。其实控制信号回路的一个简单的办法就是对重点信号进行包地处理（在两边近的距离走地线，尤其是双面板要特别注意，因为双面微带模型阻抗有150欧姆，和自由空间布相上下，而包地可以提供几十欧姆的阻抗），请注意由于走线本身在高频里面也是有阻抗的，所以好採用地平面或者地线多次接过孔到地平面。我很多的设计都是在採用包地以后，避免了时钟信号的辐射超标。
辐射/传导快速测量系统——与传统测试系统不同，该快速测量系统采用多天线法，具有如下优势：1.根据产品要求选择不同的替代方案；2.设置预警限值，提前筛选风险产品；3.测试精度与标准环境相近；4.自动化测量，测试周期短；无线产品功耗测量系统——无线功耗自动化测试系统主要用于产品在不同工作模式、不同工作环境和不同传输速率下数据传输的功耗测试：1.自动运行配置脚本；2.支持待机功耗和发射功耗测量；3.支持蓝牙、WiFi、2/3/4/5G手机等功耗测量；4.系统环境不受干扰、测量精度高。保持讯号路径和它的地返回线紧靠在一起将有助于小化地线环路，避免出现潜在的天线环。
近场扫描仪的特点：1.不需要消声室：可以使用场分离技术将辐射声从房间反射声中分离出来。2.比消声室测量精度更高100Hz以下，不需要房间校正曲线。3.快速测量：标准3D声学测量，可在不到20分钟内完成典型两分频系统的声功率测量。4.高信噪比：近场中声压级高，对环境噪声的要求不需要太严格。全部的辐射数据集从近场测量获得的辐射数据集中可获取3D空间中任何点的SPL。近场扫描仪使用移动的麦克风来扫描整体声源（如扬声器系统或安装在障板上的换能器）近场中的声压。被测设备（<500kg）在扫描过程中不会移动，这样，非消声环境中的反射就可以保持一致并通过新颖的分析软件进行监测，该软件使用声学全息和场分离技术来提取直达声并减少室内反射。辐射干扰是指干扰源通过空间把其信号耦合(干扰)到另一个电网络。深圳电磁波无线性能抑制方式
一种电磁场近场扫描装置，包括探头、空间移动平台、显微摄像装置、信号分析装置和计算机；深圳韩国KC辐射杂散解决方案
可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统根据用户的需求进行配置，可选配一个或多个功能，也可以后续逐步升级功能，主要功能如下：辐射(RE)近场电磁扫描诊断分析，可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统支持频率范围9kHz-18GHz的辐射(RE)近场分析，包含电场近场探头(E-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe)，支持0.01mm分辨率步进电磁扫描，支持-90dBm以上电磁辐射信号分析。支持频率分布、功率分布、频谱分布、谐波分布等多电磁兼容EMI可视化分析功能，满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的电磁兼容问题自动诊断分析，普遍用于手机、多媒体设备、无线终端模块、医疗、、仪器仪表等行业的前期电磁兼容正向研发、电磁可靠性评估、电磁干扰源头定位、替代物料电磁可靠性评估、器件选型电磁可靠性评估、成本降低电磁性能评估、更新方案设计的电磁性能评估、电磁仿真验证等方面。深圳韩国KC辐射杂散解决方案
扬芯科技（深圳）有限公司是一家扬芯科技(深圳)有限公司成立于2018年11月01日，注册地位于深圳市龙华区大浪街道新石社区华联工业区28号1202，法定代表人为杨红波。经营范围包括一般经营项目是：通讯设备、汽车零部件、消费电子产品的集成电路、元器件设计与开发；自动化检测系统集成及解决方案的开发、销售及技术咨询；国内贸易、货物及技术进出口。的公司，是一家集研发、设计、生产和销售为一体的专业化公司。公司自创立以来，投身于近场辐射问题解决方案， 辐射抗扰度问题解决方案，辐射杂散预测试系统，射频干扰问题解决方案，是仪器仪表的主力军。扬芯科技致力于把技术上的创新展现成对用户产品上的贴心，为用户带来良好体验。扬芯科技始终关注仪器仪表市场，以敏锐的市场洞察力，实现与客户的成长共赢。
文章来源地址: http://yiqiyibiao.chanpin818.com/jlbzqj/dlfsjlbzqj/deta_13342054.html
免责声明： 本页面所展现的信息及其他相关推荐信息，均来源于其对应的用户，本网对此不承担任何保证责任。如涉及作品内容、 版权和其他问题，请及时与本网联系，我们将核实后进行删除，本网站对此声明具有最终解释权。