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镀层测厚仪 镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。 镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，泰州X荧光镀层测厚仪，泰州X荧光镀层测厚仪，速度慢，多适用于抽样检验。 射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层，泰州X荧光镀层测厚仪、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法*在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
涡流测量原理 高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。 采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。
测厚仪如何选择 首先了解测厚仪类型：涂层测厚仪、超声波测厚仪、电解测厚仪、超声波涂层测厚仪、薄膜测厚仪（测厚规）、X射线测厚仪等；它可以从测量的产品是哪个部分来分类，也可以从测厚仪本身的测量原理来分类等等。 根据所测量产品的具体实际部分来分,测量产品的整体的,比如金属板、玻璃板等的厚度的是超声波测厚仪,这种仪器的称呼也是根据原理来命名的,只能测量一整块的厚度,而不能测量表面油漆层或镀层厚度,因为要测量的东西通常都在毫米以上,所以一般都是精确到毫米。
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