PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪,江苏光轴测量仪生产公司。该设备可解析多层相位差,江苏光轴测量仪生产公司,是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量;是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备;并提供不同型号,供客户进行选配。
设备主要运用于:偏光片,盖板玻璃,双折射材料,离型膜,补偿膜,其他光学材料的测试中,江苏光轴测量仪生产公司。可解析多层相位差,主要测试项目包括:吸收轴角度,偏光轴角度,快轴,慢轴角度,波长分散性,三次元折射率,相位差R0/Rth(0~20000nm),透过率,色度,偏光度。 轴角度测量范围:0°~180° 。江苏光轴测量仪生产公司
一种起偏振片的制备方法,包括:
通过一包括如下步骤的方法制备一偏振薄膜:
用夹具将一连续进料的用于偏振薄膜的聚合物薄膜的两个边夹 住;和
将所述聚合物薄膜延伸,同时所述夹具运行至该薄膜的纵向并向 该薄膜施加张力,
其中,当L1**夹具从聚合物薄膜一个边缘的实际夹住起点直 到实际夹住释放点的轨迹,L2**夹具从聚合物薄膜的另一边缘的 实际夹住起点直到实际夹住释放点的轨迹,并且W**所述两个实 际夹住释放点之间的距离,LI、L2和W满足式(2):
|L2-L1| >0.4W 的关系,
将所述聚合物薄膜延伸,同时保持该聚合物薄膜的支持性能并使 挥发性成分的含量为5%或更大,然后将所述聚合物薄膜收缩,同时 降低该挥发性成分的含量,然后将该聚合物薄膜卷成卷状;
将一保护薄膜附着于所述偏振薄膜的至少一个表面上,并且由所 述保护薄膜的相位滞后轴与所述偏振薄膜的吸收轴构成的角度不小 于10。并小于90。 江苏光轴测量仪生产公司轴角度测量范围:0°~180°。
能提供固定或可变相移量的无耗二端口网络称为固定或可变移相器。数字处理技术的发展日新月异,随着集成电路技术和软件技术的不断发展和解决复杂问题能力的不断提高,DSP技术的出现使得测量仪器集成度高,稳定性好,测量速度快,精度高,操作简捷,功能也越来越强大。目前,国内相位计生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题,其采用的器件、方法和技术与技术先进国家有较大的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由于技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术,因此国内相位测量的水平有着相当大的差距。同时,随着**和科教等领域的发展,迫切需要高精度高性能的相位测量系统,而且在一些特殊工程领域,还需要测量仪器具备其它特殊功能。由此可见,为缩小这些差距,对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。推荐产品本文给大家介绍一套较完整的数字高精度相位计,提高相位及频率参数的测量精度,并扩展测相系统功能,该设备具有操作简便、使用方便、安全,由于采用电流耦合、高阻输入方式对轨道电路相位差、相邻区段极**叉进行检查,解决了相邻区段有车占用时极**叉无法检查的问题。
相位差测量 两个正弦电量可以是电压和电流,或者一个是电压,一个是电流等,对应点通常是从负到正的过零点,相当于正弦电函数的初始相位角。相位差的单位是度或弧度,正负号表示超前或滞后关系。一种 由于被测相位差正弦电量的频率范围很宽,所以通常根据频率选择测量方法和仪器。常用的方法有直接法和间接法。一种 直接法:用指针式相位计、数字相位计等**仪器或用负示波器测量相位差。当使用阴极示波器时,将两个相同频率的正弦电压信号分别加到示波器的X轴和Y轴上。然后两个正弦电压之间的相位差为∮=电弧正弦(B/α)。整机对应样品皆可定制。
光谱仪参数
探测器类型: HAMATSU光电二极管阵列
像素点: 2048
光栅: 全息平场凹面衍射光栅
狭缝: 可选择狭缝宽度(25um、50um、100um、200um)
光谱范围: VIS:400--800nm
UV-VIS:190--800nm
光学分辨率: VIS:1.5nm(100um狭缝)
UV-VIS:1.5nm(100um狭缝)
波长精度: ±0.2nm
光谱杂散光: <0.05%(400nm)
信噪比: 2000:1
AD分辨率: 16bit
积分时间: 0.1ms--60s
供电: 5V/220mA
通讯接口: USB2.0(480Mbps)
解析多层相位差:相位差(0~20000nm)
吸收轴角度/偏光轴角度
透过率,色度(La、b),偏光度
快轴慢轴角度
单波段(550nm为主)/多波段测试(380nm~nm为主)
内应力(此功能软件开发中) 测量波段可升级为380nm~780nm。江苏光轴测量仪生产公司
测量重复性:0.02° (精度业内比较高)。江苏光轴测量仪生产公司
相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具,比如在电力系统中电网并网合闸时,需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多,典型的传统方法是通过显示器观测,这种方法误差较大,读数不方便。为此,我们设计了一种数字相位差测量仪,实现了两列信号相位差的自动测量及数显。近年来,随着科学技术的迅速发展,很多测量仪逐渐向“智能仪器”和“自动测试系统”发展,这使得仪器的使用比较简单,功能越越多。江苏光轴测量仪生产公司
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