苏州RETS-100相位差测试仪 苏州千宇光学科技供应

相位差测试仪的发展与现状

相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展，目前相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较成熟，相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发,展可分为三个阶段:***个阶段是早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、对比法和平衡法等，虽方法简单，但测量精度较低，第二阶段是利用数字

**电路，苏州RETS-100相位差测试仪，微处理器，苏州RETS-100相位差测试仪、FPGA/CPLD，苏州RETS-100相位差测试仪、 DSP 等构成测相系统，使测量精度得以**提高，第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术，从而**简化设计程序，增强功能，使得相应的产品精度更高，功能更全，同时各种新的算法也随之出现。

偏光片关键层-PVA PVA膜 (PolyvinylAlcohol)全称聚乙烯醇薄膜，其组分主要是碳氢氧等轻原子，因此具有高透光和高延展性等特点。PVA分子本来是任意角度无规则性分布的，PET相位差测试仪，在一定温度和湿度条件下，受力拉伸后就逐渐偏转于作用力方向，趋向于成直线状分布。 拉伸后的PVA分子沿拉伸方向直线排列，拉伸膜相位差测试仪，吸附在PVA层上的染料分子也跟随着有方向性的偏转，形成或染料分子的长链。因为碘离子(或染料分子)有很好的起偏性，它可以吸收平行于其排列方向的偏振光，金华相位差测试仪，只让垂直方向的偏振光通过，利用这样的原理就可制造偏光膜。

光谱仪参数

探测器类型:                   HAMATSU光电二极管阵列

像素点：                              2048

光栅：                          全息平场凹面衍射光栅

狭缝：        可选择狭缝宽度（25um、50um、100um、200um）

光谱范围：                        VIS：400--800nm

UV-VIS:190--800nm

光学分辨率：                     VIS：1.5nm（100um狭缝）

UV-VIS:1.5nm（100um狭缝）

波长精度：                             ±0.2nm

光谱杂散光：                             <0.05%（400nm）

信噪比：                               2000：1

AD分辨率：                             16bit

积分时间：                            0.1ms--60s

供电：                                 5V/220mA

通讯接口：                          USB2.0（480Mbps）

解析多层相位差：相位差（0~20000nm）

吸收轴角度/偏光轴角度

透过率，色度（La、b），偏光度

快轴慢轴角度

单波段（550nm为主）/多波段测试（380nm~nm为主）

内应力（此功能软件开发中）

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