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苏州日本大冢LCD-7100光学测试系统 苏州千宇光学科技供应

单价: 面议
所在地: 江苏省
***更新: 2020-03-31 06:29:43
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产品详细说明

在自然环境中,温度和湿度是不可分割的两个自然因素,不同地区由于不同的地理位置,苏州日本大冢LCD-7100光学测试系统,产生的温度、湿度效应也各不相同。本试验是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输,苏州日本大冢LCD-7100光学测试系统、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间。温度突变试验和温度渐变试验当试验箱(室)温度升到或降至规定的温度后,苏州日本大冢LCD-7100光学测试系统,立即将样品放入试验箱进行试验,称为温度突变试验,而将样品先放入温度为室温的试验箱中,然后将箱内温度逐渐升到或降至试验所规定温度的试验,市场角高低温光学测试,称为温度渐变试验。环境试验设备所出示自然环境标准的精i确性是由国家计量检定单位根据国家技术性管理机构所制订的检定规程检定合格后出示确保。

扫描波长光学测量解决方案结合使用一个或多个光功率计与可调激光源 (TLS),可以支持光功率与波长关系测量。此类测量常用于确定被测器件输入功率与输出功率的比值,比值称为插入损耗,单位为 dB。当 TLS 在选中范围内调谐波长时,功率计将定时采样指定数量测量点的功率。通过一个触发信号与 TLS 扫描同步,这些样本能够实现与对应波长的精确相关。使用多个功率计可以同时测量多端口器件 (例如多路复用器、功率分离器和波长开关) 的输出。使用81600B、81940A 或 81980A TLS,以及功率计 (例如 816x 系列模块或多端口 N7744A 和 N7745A) 和**的 N7700A IL 软件,可以组成一个测量系统。这些“波长扫描”例程的编程过程非常简单,可以使用**的 816x 即插即用驱动程序,并应用 N4150A 光基础程序库 (PFL) 的测量功能进行增强。该测量装置在 TLS 后与 81610A 回波损耗模块连接,还可以测量光反射 (回波损耗)。

对通过光学系统的光束起限制作用的光学元件。它可是光学元件(透镜、反射镜等)本身的边框,也可是另外设置的带孔不透明屏。光阑中心通常在光轴上,且与光轴垂直。 光学系统的各个光学零件都由各自的镜框限定其通光孔,绝大多数情况下是圆孔。有时还在系统中加入固定的或可变的专设光孔。在所有这些光孔中,一定有一个光孔起着限制轴上点成像光束孔径角的作用;另外有一个光孔起着限制成像范围的作用。这样的光孔称为光阑:前者称孔径光阑或有效光阑;后者称视场光阑。任何光学系统必定存在这样二个光阑。

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