[VIP第1年] 指数:3
维度光电BeamHere 光斑分析仪系列，提供全场景激光光束质量分析解决方案。产品覆盖 190-2700nm 光谱，包括扫描狭缝式和相机式技术，实现亚微米至毫米级光斑测量。扫描狭缝式支持 2.5μm-10mm 光斑检测，具备 0.1μm 分辨率，适用于高功率激光。相机式提供 400-1700nm 响应，实现 2D/3D 成像分析，测量功率范围 1μW-1W。M² 因子测试模块基于 ISO 11146 标准，评估光束质量。软件提供自动化分析和标准化报告。技术创新包括正交狭缝转动轮结构和适应复杂光斑的面阵传感器。产品适用于光束整形检验、光镊系统检测和准直监测。结构设计优化，通过 CE/FCC 认证，应用于多个领域，助力光束质量分析和工艺优化。
在激光应用领域，高功率光束检测一直是个难题。传统面阵传感器十分灵敏，在每平方厘米约 10μW 的功率水平下就会饱和，常规激光器功率远超此强度，不衰减光束不仅无法测量光斑信息，还可能损坏设备。维度光电为此推出 BeamHere 光斑分析仪系列及适配的高功率光束取样系统。其扫描狭缝式光斑分析仪采用创新的狭缝物理衰减机制，可直接测量近 10W 的高功率激光，无需额外衰减片。在此基础上，还推出单次取样与双次取样两款衰减配件，可组装叠加形成多次取样系统。与合适衰减片搭配，可测功率超 1000W。单次取样配件型号 DL - LBA - 1，45° 倾斜设计，取样率 4% - 5%，有 C 口安装方式和锁紧环结构，能测量任意角度入射激光；双次取样配件型号 DL - LBA - 2，内部紧凑安装两片取样透镜，取样率 0.16% - 0.25%，可应对 400W 功率光束，多面体结构有多个支撑安装孔位。组合安装配件可进一步衰减更高功率激光，大衰减程度达 10⁻⁸。而且其紧凑结构的取样光程能满足聚焦光斑测量需求，单次取样 68mm，双次取样 53mm，为各类激光应用场景的检测提供了方案。
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