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JEM-2100F透射电子显微镜(TEM)

单价: 面议
所在地: 全国
最后更新: 2018-12-11 10:03:59
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产品详细说明

供应,上海JEM-2100F透射电子显微镜(TEM)检测,服务,销售,聚仪网供


仪器名称

场发射透射电镜(TEM)

JEM-2100F

主要技术参数

1、加速电压100、120、160、200kV

2、点分辨率0.24nm

3、线分辨率0.10nm

4、样品比较大倾角+/- 25o

5、STEM分辨率0.2nm

应用范围

对各种固体材料的微观形貌和结构进行观察和分析;对固体材料的元素组成进行定性和定量分析。广泛应用于材料科学、生物医学、地质矿产、化学、环境、光电子等领域。

材料要求

制备可供透射电镜观察的样品(固体样品需要有薄区)




聚仪网简介
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