性能可靠:对正弦/三角/梯形波/方波的相位差进行精密测量;高度集成,精度高;参数指标:输入信号波形正弦/三角/梯形波/方波输入阻抗1MΩ相位范围0°to360°or±180°频率范围10Hz~99Hz幅度范围~250V分六个量程,自动选择量程测量精度相位测量精度±1°(典型值正弦波:10Hz-99Hz)相位分辨率°相位重复性±°或更好频率测量精度±频率分辨率幅度精度±幅度分辨率1mV、、环境特性工作温度0℃~+50℃相对湿度≤90%(40℃)存储温度-30℃~+70℃供电电源交流220V±10%,50Hz±5%,功率小于75W机箱尺寸3U,19″标准机箱(上机架)482mm(宽)x370(深)x150mm(高)测相位差原理分析一般测量相位差有如下两种方法:方法1::将两路同频不同相的方波信号异或后得到的脉冲宽度t与方波信号的周期T的比值(占空比),苏州光轴角偏光片贴合角测试仪,苏州光轴角偏光片贴合角测试仪,即对应为两信号的相位差,如下所示:异或测量相位差的原理方法2:通过捕获处理后的两通道的方波,苏州光轴角偏光片贴合角测试仪,就可计算出相位。整机尺寸:根据客户样品尺寸定制。苏州光轴角偏光片贴合角测试仪
滞后的相位值都为π的一半,或者说90°.在计算电路电流有效值时,电容电流超前90,电感落后90,可用矢量正交分解加合.加在晶体管放大器基极上的交流电压和从集电极输出的交流电压,这两者的相位差正好等于180°.这种情况叫做反相位,或者叫做反相.正弦量正交(90°)和反相(180°)都是特殊的相位差.目前,国内相位差测量仪生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题,其采用的器件、方法和技术与技术先进国家有较大的的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术,因此国内相位测量的水平与国外水平有着相当大的差距。同时,随着**和科教等领域的发展,迫切需要高精度高性能的相位测量系统,而且在一些特殊工程领域,还需要测量仪器具备其它特殊功能。由此可见,为缩小这些差距,对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。本文介绍的是一套较完整的高精度相位差测量仪,提高相位及频率参数的测量精度,并扩展测相系统功能,由移相网络模块、相位差测量模块及频率测量模块三大部分构成,其系统功能主要是进行相位差测量及频率和幅度测量。苏州偏光片贴合角测试仪供应商家选配测试功能:1.相位差延迟量、椭偏率、配向角 2.色度、多波段测试(380nm~780nm)、偏光度 。
相位差测试仪应用于电力线路、变电所的相位校验和相序校验,具有核相、测相序、验电等功能。具备很强的抗干扰性,适应各种电磁场干扰场合。被测高电压相位信号由采集器取出,经过处理后直接发射出去。由***接收并进行相位比较,对核相后的结果定性。因本产品是无线传输,真正达到安全可靠、快速准确,适应各种核相场合。两个频率相同的交流电相位的差叫做相位差,或者叫做相差。这 两个频率相同的交流电,可以是两个交流电流,可以是两个交流电压,可以是两个交流电动势,也可以是这三种量中的任何两个。两个同频率正弦量的相位差就等于初相之差。是一一个不随时间变化的常数。也可以是一个元件.上的电流与电压的相位变化。
偏光片关键层-PVA PVA膜 (PolyvinylAlcohol)全称聚乙烯醇薄膜,其组分主要是碳氢氧等轻原子,因此具有高透光和高延展性等特点。PVA分子本来是任意角度无规则性分布的,PET相位差测试仪,在一定温度和湿度条件下,受力拉伸后就逐渐偏转于作用力方向,趋向于成直线状分布。 拉伸后的PVA分子沿拉伸方向直线排列,拉伸膜相位差测试仪,吸附在PVA层上的染料分子也跟随着有方向性的偏转,形成或染料分子的长链。因为碘离子(或染料分子)有很好的起偏性,它可以吸收平行于其排列方向的偏振光,金华相位差测试仪,只让垂直方向的偏振光通过,利用这样的原理就可制造偏光膜。倾斜旋转台规格:倾斜角度范围:一60° ~十60' **小角度: 0. 1。 旋转角度范旧: - 180° ~+ 180° 旋转**小角度: 0. 1。
所谓移相是指两种同频的信号,以其中的一路为参考,另一路相 对于该参考作超前或滞后的移动,即称为是相位的移动。两路信号的 相位不同,便存在相位差,简称相差。若我们将一个信号周期看作是 360,则相差的范围就在0°~360°。:两个同频信号之间的移相, 是电子行业继电保护领域中模拟、分析问题的一个重要手段,利用移 相原理可以制作校验各种有关相位的仪器仪表、继电保护装置的信号 源。因此,移相技术有着特别广的实用价值。我们知道,将参考信号整 形为方波信号,并以此信号为基准,延时产生另一个同频的方波信号, 再通过波形变换电路将方波信号还原成正弦波信号。单波段(550nm为主)/多波段测试(380nm"nn为主)。苏州偏光片贴合角测试仪供应商家
高精度轴角度相位差透过率,色度(La、 b),偏光度。苏州光轴角偏光片贴合角测试仪
PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差,是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量;是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备;并提供不同型号,供客户进行选配。
设备主要运用于:偏光片,盖板玻璃,双折射材料,离型膜,补偿膜,其他光学材料的测试中。可解析多层相位差,主要测试项目包括:吸收轴角度,偏光轴角度,快轴,慢轴角度,波长分散性,三次元折射率,相位差R0/Rth(0~20000nm),透过率,色度,偏光度。 苏州光轴角偏光片贴合角测试仪
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