[VIP第1年] 指数:3
偏光片吸收轴角度测试仪主要精度数据
测试对象：偏光片，相位差膜，光学膜测试项目：偏光度，透过率(单体/平行/直交)，色度，相位差（R0/RTH），轴角度，吸收轴角度，江苏偏光片吸收轴角度测试仪概念，消光比注：测试可选择高精度模式和快速模式整机尺寸：根据客户样品尺寸定制对应样品尺寸：可定制测试光斑：约5mm轴角度测量范围：0°~180°偏光度重复性：３σ≦０．００１%可实现指定波长透过率测量轴角度精度：±0，江苏偏光片吸收轴角度测试仪概念.05°（高精度模式）测量重复性：0，江苏偏光片吸收轴角度测试仪概念.02°（高精度模式）相位差测亮范围：0~20000nm相位差重复性精度：３σ≦０．１nm；测量波段：400nm~800nm倾斜旋转台规格：傾斜角度范围：－60°～＋60°**小角度：０．１°旋转角度范围：－180°～＋180°旋转**小角度：０．１° 轴角度测量范围：0°~180，轴角度测量范围：0°~180。江苏偏光片吸收轴角度测试仪概念
PLM偏光系列测试仪选配型号：PLM-10S可测项目：吸收轴角度，偏光度，透过率（单体，平行，直交）
相位测量技术的研讨由来已久，**早的研讨和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部分、机械部分、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到注重和展开。跟着电子技术和计算机技术的展开，相位测量技术得到了灵敏的展开，现在相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较老练，相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测:量技术的展开可分为三个阶段:***阶段是在前期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等，虽然方法简略，但测量精度较低;第二阶段是运用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、 DSP等构成测相系统，使测量精度得以**提高;第三阶段是充分运用计算机及智能化虚拟测量技术，然后**简化规划程序，增强功用，使得相应的产品精度更高、功用更全。一起，各种新的算法也随之出现。 江苏AXOSCAN吸收轴角度测试仪用途整机尺寸：根据客户样品尺寸定制。
光学膜偏光片吸收轴角度测试仪相关科普：相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具，比如在电力系统中电网并网合闸时，需要两电网的电信号相同，这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多，典型的传统方法是通过显示器观测，这种方法误差较大，读数不方便。为此，我们设计了一种数字相位差测量仪，实现了两列信号相位差的自动测量及数显。在相位差测量过程中，不允许两路信号在放大整形电路中发生相对相移。为了使两路信号在测量电路中引起的附加相移是相同的，图1中A1和A2安排了相同的电路。
关于偏光片吸收轴角度定义科普：来间接的测定信号传播的时间，从而求得被测距离的。因此，信号相位测量的精度也就决定了测距的精度。相位测量技术的研究由来已久，**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展，相位测量技术得到了迅速的发展，目前相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较成熟，相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发展可分为三个阶段：***阶段是在早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等，虽然方法简单，但测量精度较低；第二阶段是利用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统，使测量精度得以**提高；第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术，从而**简化设计程序，增强功能，使得相应的产品精度更高、功能更全。同时，各种新的算法也随之出现。相位测量是正弦信号经过不同的时间或不同的网络后可以有不同的相位。通常所谓相位测量是指对两个同频率信号之间相位差的测量。**常见的是对网络输入与输出信号的相位差，即网络相移的测量。相位差测试仪：偏光片贴合角测试仪 。
PLM-100系列测试仪可测试项目及定义
测试项目有：1、吸收轴角度定义：偏光片的透过率zui低的方向
2、相位差R0定义：在XY方向光的行进距离会产生差异，平面方向的相位差（R0）
优势：可以测试0-20000nm的相位差范围；零残留相位差测试；高相位差测试
3、相位差Rth定义：厚度方向的相位差
4、波长分散性测试定义：在波长400nm-800nm下相位延迟量的曲线
5、慢轴、快轴角度定义：慢轴（快轴）与基准边的夹角
6、偏光度、色度、透过率（单体、平行、直交）优势：搭载高精密光谱仪，可以兼容测试偏光片的光学特性 傅里叶变换解析偏振光，数据可靠稳定。江苏离型膜慢轴吸收轴角度测试仪概念
测量波段：550nm单波段（可根据客户要求定制波段）。江苏偏光片吸收轴角度测试仪概念
PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。设备主要运用于：偏光片，盖板玻璃，双折射材料，离型膜，补偿膜，其他光学材料的测试中。可解析多层相位差，主要测试项目包括：吸收轴角度，偏光轴角度，快轴，慢轴角度，波长分散性，三次元折射率，相位差R0/Rth（0~20000nm）,透过率，色度，偏光度。江苏偏光片吸收轴角度测试仪概念
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