测定超痕量元素和同位素比值的仪器。由等离子体发生器,雾化室,炬管,四极质谱仪和一个快速通道电子倍增管(称为离子探测器或收集器)组成。其工作原理是:雾化器将溶液样品送入等离子体光源,在高温下汽化,解离出离子化气体,通过铜或镍取样锥收集的离子,在低真空约133.322帕压力下形成分子束,再通过1~2毫米直径的截取板进入四极质谱分析器,经滤质器质量分 离后,到达离子探测器,根据探测器的计数与浓度的比例关系,可测出元素的含量或同位素比值。其优点是:具有很低的检出限(达ng/ml或更低),基体效应小,谱线简单,能同时测定许多元素,动态线性范围宽及能快速测定同位素比值。地质学中用于测定岩石、矿石、矿物、包裹体,地下水中微量、痕量和超痕量的金属元素,某些卤素元素、非金属元素及元素的同位素比值。质谱仪,就选上海禹重实业有限公司,让您满意,欢迎您的来电哦!上海ICPMS质谱仪色谱柱
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电感耦合等离子体质谱仪质谱仪种类主要用途:1.痕量及超痕量多元素分析2.同位素比值分析仪器类别:/仪器仪表/成份分析仪器/质谱仪,测定超痕量元素和同位素比值的仪器。由等离子体发生器,雾化室,炬管,四极质谱仪和一个快速通道电子倍增管(称为离子探测器或收集器)组成。其工作原理是:雾化器将溶液样品送入等离子体光源,在高温下汽化,解离出离子化气体,通过铜或镍取样锥收集的离子,在低真空约~2毫米直径的截取板进入四极质谱分析器,经滤质器质量分离后,到达离子探测器,根据探测器的计数与浓度的比例关系,可测出元素的含量或同位素比值。其优点是:具有很低的检出限(达ng/ml或更低),基体效应小,谱线简单,能同时测定许多元素,动态线性范围宽及能快速测定同位素比值。地质学中用于测定岩石、矿石、矿物、包裹体,地下水中微量、痕量和超痕量的金属元素,某些卤素元素、非金属元素及元素的同位素比值上海ICPMS质谱仪色谱柱上海禹重实业有限公司是一家专业提供质谱仪的公司。
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质谱仪使用的注意事项:(1) 不用直接进样(容易污染离子源)。(2)做联用时 分流(缩短分析时间、延长质量分析器寿命)。(3) 使用在线切换阀,将每个样品的前后1-2分钟的流动相切入废液(避免样品中的盐进入质谱。做Sequence时可以把平衡柱子的流动相切入废液)。(4)开始联用前,直接运行质谱数分钟,可以先将温度(毛细管温度和离子源温度(APCI))加热到预设定值。(5)待机时将切换阀置于waste,避免刚开液相时将流动相打入离子源。(6)关机前毛细管的温度先降下来,稳定一段时间后再关闭电源,避免风扇停止转动后毛细管 的热量向里扩散,容易引起内部线路及电子元器件老化加速。(7)如果用的是钢瓶而且天天做样的话,可将两个钢瓶并联。(8)做定量时注意离子源喷针的具 置,否则可能会影响标准曲线。(9)如果是负离子检测的话,可以向流动相中加入少量异丙醇。
测定超痕量元素和同位素比值的仪器。由等离子体发生器,雾化室,炬管,四极质谱仪和一个快速通道电子倍增管(称为离子探测器或收集器)组成。其工作原理是:雾化器将溶液样品送入等离子体光源,在高温下汽化,解离出离子化气体,通过铜或镍取样锥收集的离子,在低真空约133.322帕压力下形成分子束,再通过1~2毫米直径的截取板进入四极质谱分析器,经滤质器质量分离后,到达离子探测器,根据探测器的计数与浓度的比例关系,可测出元素的含量或同位素比值。其优点是:具有很低的检出限(达ng/ml或更低),基体效应小,谱线简单,能同时测定许多元素,动态线性范围宽及能快速测定同位素比值。地质学中用于测定岩石、矿石、矿物、包裹体,地下水中微量、痕量和超痕量的金属元素,某些卤素元素、非金属元素及元素的同位素比值上海禹重实业有限公司是一家专业提供质谱仪的公司,期待您的光临!
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质谱仪常见问题上海禹重告诉你:谱图为什么只有溶剂峰可能有以下原因:(1)进样针损坏(2)载气流速太低(3)样品浓度太低(4)样品被柱或进样器衬套吸附14、质谱基线高是什么原因质谱的基线其实跟液相的紫外检测器和荧光检测器一样,基线高的原因不外乎内部和外部的原因。(1)选择的流动相在质谱的响应比较高,比如水相比较多的时候,噪音比较大些;还有如果盐含量比较大的时候,噪音更大些。(2)检测器的灵敏度越高的时候,噪音应该越高。如果质谱的污染比较严重时,基线肯定比较高。比如离子阱检测器,用得久了,阱中的离子就会增多,一方面降低了质谱的灵敏度,另一方面增加了基线噪音。(3)质谱的基线很多时候还跟你选择的离子宽度有关。比如作选择离子扫描的时候,基线就低些。作选择反应扫描的时候,离子宽度不要选得太宽,太宽噪音就高些。(4)多级质谱一般做二级或三级质谱,基线噪音就低很多。上海禹重实业有限公司为您提供质谱仪,欢迎您的来电!上海质谱仪维修
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同位素质谱仪同位素质谱分析法的特点是测试速度快,结果精确,样品用量少(微克量级)。能精确测定元素的同位素比值。 用于核科学,地质年代测定,同位素稀释质谱分析,同位素示踪分析。离子探针离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面,测射出原子及分子的二次离子,在磁场中按质荷比(m/e)分开,可获得材料微区质谱图谱及离子图像, 再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。测试前对不同种类的样品须作不同制备,离子探针兼有电子探针、火花型质谱仪的特点。可以探测电子探针显微分析方法检测极限以下的微量元素,研究其局部分布和偏析。可以作为同位素分析。可以分析极薄表面层和表面吸附物,表面分析时可以进行纵向的浓度分析。成像离子探针适用于许多不同类型的样品分析,包括金属样品、半导体器件、非导体样品,如高聚物和玻璃产品等。广泛应用于金属、半导体、催化剂、表面、薄膜等领域中以及环保科学、空间科学和生物化学等研究部门。上海ICPMS质谱仪色谱柱
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