[VIP第1年] 指数:3
XRDynamic500介绍-大测角仪半径和真空光束路径可提供更好的分辨率：标准测角仪半径为360mm或400mm,用于在经典Bragg-Brentano几何衍射仪中获得最高分辨率数据独特的真空光路.所有的光学元件和探测器都在真空中,实现比较高信噪比无需在测量速度XRDynamic500介绍-和测量分辨率之间进行折衷一可以二者兼得。使用较大的测角仪半径时,由于空气散射导致的测量背景小。XRDynamic500介绍-大测角仪半径和真空光束路径可提供更好的分辨率：标准测角仪半径为360mm或400mm,用于在经典Bragg-Brentano几何衍射仪中获得最高分辨率数据独特的真空光路.所有的光学元件和探测器都在真空中,实现比较高信噪比无需在测量速度XRDynamic500介绍-和测量分辨率之间进行折衷一可以二者兼得。使用较大的测角仪半径时,由于空气散射导致的测量背景小。原子吸收分光光度计批发就找四川沃顿科技有限公司。热分析仪直销
元素分析检测设备—JEM-F200特点：1、皮米样品台驱动：JEM-F200采用能以皮米级步长移动样品台的Picostagedrive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。2、SpecPorter（自动插入和拔出样品杆的装置）：插入和拔出样品杆，对电镜初学者来说一直是高难度的操作。JEM-F200配备的SpecPorter，即使新手也能轻松掌握，将样品杆安装在指定的位置上，只用一个按钮即能安全地插入或拔出。3、改进的冷场发射电子枪：JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪（选配），该的利用可以进行EELS化学结合状态分析，高亮度的电子束缩短了分析时间，并且还降低了来自光源的色差，实现了高分辨率的观察。总有机碳分析仪直销成都X射线衍射仪批发就找四川沃顿科技有限公司。
电感耦合等离子体质谱仪-ICPMS-2030特点：1、高稳定性、优异的灵敏度和低干扰。全新研发的碰撞池技术很大程度上降低了干扰，从而实现了高灵敏度，进样系统和离子传输界面维护简单，保证稳定性。另外，系统支持LC-ICPMS等联用技术。2、LabSolutionDB/CSICPMS满足FDA21part11，支持实验室网络化管理。LabSolutionDB/CSICPMS满足FDA21CFRPart11、ERES等法规要求，具有电子记录和电子签名功能。该软件支持实验室网络化管理，各种实验仪器如HPLC,LCMS,GC,GCMS,UV,FTIR,RF,EDX,TOC,和PPSQ的分析结果都可以使用一个服务器集中处理。
元素分析检测设备—AA-7800介绍：原子吸收分光光度计AA-7800系列功能多样，适用于各种分析应用AnvApplication，即使对初学者(AnvUser)也可以速上手，且安全使用，并可通过自动进样器实现连续分析，通过网络连接实现远程数据分析，这样使分析操作员工作方式更加灵活(AnyLocation)元素分析检测设备—AA-7800介绍：原子吸收分光光度计AA-7800系列功能多样，适用于各种分析应用AnvApplication，即使对初学者(AnvUser)也可以速上手，且安全使用，并可通过自动进样器实现连续分析，通过网络连接实现远程数据分析，这样使分析操作员工作方式更加灵活(AnyLocation)氧氮氢分析仪批发就找四川沃顿科技有限公司。
液相色谱仪—NexeraLC-40介绍：(1)UV-VIS紫外可见光检测器SPD-40/SPD40V二极管阵列检测器SPD-M40三重控温技术提高设备稳定性分析数据与消耗品信息相关联，以确保可追溯性.(2)流动相输送单元LC-40系列在分析过程中具备自动诊断以及自动恢复功能.更加节约空间的二元输液泵一体化设计。(3)自动进样器SIL-40系列/TECHANGER进样速度较之前产品提升一倍，缩短多样品分析进程时间。可对多达44组微孔板进行连续分析。微量进样时保证高重复性和交叉污染。自动样品前处理功能，如样品稀释、内标添加、衍生化反应等，从而减少劳动强度。四川沃顿科技有限公司热分析仪批发就找四川沃顿科技有限公司。总有机碳分析仪直销
四川能量色散型X射线荧光光谱仪批发就找四川沃顿科技有限公司。热分析仪直销
元素分析检测设备—JEM-JEM-F200特点：1、外观设计精炼：精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。2、四级聚光镜系统：现在的电子显微镜需要支持范围的成像技术---从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lenscondensersystem”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。3、扫描系统：JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“AdvancedScanSystem”即成像系统的电子束扫描功能（选配）。热分析仪直销
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