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元素分析检测设备—JEM-JEM-F200介绍：以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。元素分析检测设备—JEM-JEM-F200介绍：以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
元素分析检测设备—JEM-JEM-F200特点：1、外观设计精炼：精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。2、四级聚光镜系统：现在的电子显微镜需要支持范围的成像技术---从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lenscondensersystem”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。3、扫描系统：JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“AdvancedScanSystem”即成像系统的电子束扫描功能（选配）。成都气相色谱仪批发就找四川沃顿科技有限公司。
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