纳米级测量仪器

司逖供 纳米级测量仪器 纳米级测量仪器规格

mc2视觉检测
光谱共聚焦显微镜（stil-sa**）是一种允许设计大焦深（几毫米）光学系统的技术。对位于扩展深度范围内的任何样品，这些系统都能提供清晰、高质量和完美聚焦的图像。该技术结合了彩色编码和传统共聚焦显微镜的优点。彩色共聚焦显微镜由多色光源照射的裂缝、高质量彩色透镜、光束分离器、线性b & w光电探测器组成。它具备所有光谱共焦显微镜的优势，提供4种光学头型号供选择：deepview, microview, nanoview, vireview
包含：
一个mc2/光学头（见下面描述）
一个ccs线照相机 (2k, 4k, 8k)
mc2高亮度多led光源箱
光源箱和光学头之间的光纤线：长度为5米
双重作用：
按照所需放大率，提供样本表面的高质量图片。
为检测和分析一些预定义特征或文理特征，对图片进行处理。
优势：
此技术结合线阵相机，形成了mc2视觉检测系统，完美地解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的痛点，具有明显的优势：
无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；
环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；
适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明物体表面； 
高达80khz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸(像素可达0.2×0.2μm2)；
高可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行z轴对焦。
司逖测量技术（上海）有限公司是法国stil公司在中国的销售公司。法国stil公司为全球各行企业提供高性能的光谱共焦位移传感器（chromatic confocal ）已经超过20年。 作为光谱共焦传感器的发明者及全球**者，法国stil公司基于这一创新的技术开发了两个系列的产品：从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器。
这些高分辨率的非接触式传感器运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析，到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，及实验室研究场合的高精度设备，法国stil光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。 

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