基于电测量仪器主要利用比例技术实现测量。对于直流电,是利用同一电流在两电阻上产生的电压所形成的电压比例,或利用同一电压下两电阻的电流比例,然后结合标准器实现测量未知量。提供比例的装置犹如天平,标准器则相当于砝码。根据这一类比制成的较量仪器有直流电桥、直流电位差计等。对于交流电,测量原理与直流电基本相同,只是电阻由阻抗代替。因此,一般情况下比例是复数;实数比例或虚数比例只是其特例。此外,还可利用两个有磁耦合的线圈得到与匝数成正比的电压实数比例,或与匝数成反比的电流实数比例。根据这些原理制成的较量仪器有经典交流电桥、感应耦合比例臂电桥、交流电位差计、感应分压器、电流比较仪,上海测量仪器机械结构、互感器等。除了上述电测量仪器外,上海测量仪器机械结构,还有利用电子电路组成的等值电路元件以及利用数字技术制成的有源电桥和数字电桥等。20世纪70年代以来,由测量仪器与微计算机结合,上海测量仪器机械结构,扩大了功能,并向智能化方向发展。上海一键测量测量仪器。上海测量仪器机械结构
双轴自动补偿的所采用的构造(现有水平,包括Topcon,Trimble):使用一水泡(该水泡不是从外部可以看到的,与检验校正中所描述的不是一个水泡)来标定超高水平面,该水泡是中间填充液体,两端是气体。在水泡的上部两侧各放置一发光二极管,而在水泡的下部两侧各放置一光电管,用一接收发光二极管透过水泡发出的光。而后,通过运算电路比较两二极管获得的光的强度。当在初始位置,即超高水平时,将运算值置零。当作业中全站仪器倾斜时,运算电路实时计算出光强的差值,从而换算成倾斜的位移,将此信息传达给控制系统,以决定自动补偿的值。自动补偿的方式初由微处理器计算后修正输出外,还有一种方式即通过步进马达驱动微型丝杆,把此轴方向上的偏移进行补正,从而使轴时刻保证超高水平。上海加工测量仪器上海平面度测量仪器 。
1.根据测量条件分为(1)等精度测量:用相同仪表与测量方法对同一被测量进行多次重复测量(2)不等精度测量:用不同精度的仪表或不同的测量方法,或在环境条件相差很大时对同一被测量进行多次重复测量2.根据被测量变化的快慢分为(1)静态测量(2)动态测量1.直接测量法:不必测量与被测量有函数关系的其他量,而能直接得到被测量值的测量方法。2.间接测量法:通过测量与被测量有函数关系的其他量来得到被测量值的测量方法。3.定义测量法:根据量的定义来确定该量的测量方法。4.静态测量方法:确定可以认为不随时间变化的量值的测量方法。5.动态测量方法:确定随时间变化量值的瞬间量值的测定方法。6.直接比较测量法:将被测量直接与已知其值的同种量相比较的测量方法。7.微差测量法:将被测量与只有微小差别的已知同等量相比较,通过测量这两个量值间的差值来确定被测量值的测量方法。
几何量测量仪器根据构造上的特点还可以分为以下几种。游标式测量仪器如游标卡尺。游标高度尺及游标量角器等。微动螺旋副式测量仪器如外径千分尺、内径千分尺及公法线千分尺等。机械式测量仪器如百分表、千分表、杠杆比较仪、扭簧比较仪及三坐标测量机等。光学机械式测量仪器如光学计、测长仪、投影仪、接触干涉仪、干涉显微镜、光切显微镜、工具显微镜及测长机等。气动式测量仪器如流量计式、气压计式等。电学式测量仪器如电接触式、电感式、电容式、磁栅式、电涡流式及感应同步器等。光电式测量仪器如激光干涉仪、激光准直仪、激光丝杆动态测量、光栅式测量仪以及影像测量仪等。上海闪测仪测量仪器。
第十四、当测量仪器,工具出现下列情况为不合格:已经损坏;过载或误操作;功能出现了可疑;显示不正常;超过了规定的周检确认时间间隔;仪表封缄的完整性已被破坏;光电类、激光类仪器超过使用寿命,零点漂移严重,测量结果不稳定,测量结果可靠性低时,必须申请报废;常规仪器损坏后无法修复,或仪器破旧、示值难辩、性能不稳定,影响测量质量时,必须申请报废。第十五、测量仪器设备的申请购买及报废由项目部上报,由总工程师及主管领导负责审批,项目部对全项目的仪器配备和管理情况每半年检查一次,要求做到帐、物、卡相符,技术档案齐全。第十六、测量仪器设备必须定人保管,对贵重精密测量仪器(如GPS接收硕士学位论文第二章测绘工程质量管理的要素分析机、全站仪、精密水准仪)应规定专人保管,专人独一,专人送检,他人不得随意动用,以防损坏,降低精度。上海厚度测量测量仪器。上海新型测量仪器
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当测量带环极的光敏二极管时,环极和后极(正极)也相当一个光敏二极管,其性能也具有单向导电作用和见光后反向电阻dada下降。区分环极和前极的办法是,在反向连接情况下,让不太强的光照在光敏二极管上,阻值略小的是前极,阻值略大的是环极。光敏二极管是利用硅PN结受光照后产生光电流的一种光电器件。光敏二极管的结构与普通半导体二极管在结构上是相似的。有的光敏二极管为了提高其稳定性,还外加了一个屏蔽接地脚,外形似光敏三极管。光敏二极管工作于反向偏压,其光谱响应特性主要由半导体材料中所掺的杂质浓度所决定。上海测量仪器机械结构
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