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黄浦区激光干涉仪形貌测量 上海岱珂机电设备供应

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所在地: 上海市
***更新: 2022-08-01 00:15:16
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产品详细说明

按一次绕组对地运行状态分

一次绕组接地的电压互感器:单相电压互感器一次绕组的末端或三相电压互感器一次绕组的中性点直接接地;一次绕组不接地的电压互感器:单相电压互感器一次绕组两端子对地都是绝缘的;三相电压互感器一次绕组的各部分,包括接线端子对地都是绝缘的,黄浦区激光干涉仪形貌测量,而且绝缘水平与额定绝缘水平一致。

按磁路结构分

单级式电压互感器:一次绕组和二次绕组(根据需要可设多个二次绕组同绕在一个铁芯上,铁芯为地电位。我国在及以下电压等级均用单级式;串级式电压互感器:一次绕组分成几个匝数相同的单元串接在相与地之间,每一单元有各自独自的铁芯,黄浦区激光干涉仪形貌测量,具有多个铁芯,黄浦区激光干涉仪形貌测量,且铁芯带有高电压,二次绕组(根据需要可设多个二次绕组处在较为末一个与地连接的单元。我国在电压等级常用此种结构型式;组合式互感器:由电压互感器和电流互感器组合并形成一体的互感器称为组合式互感器,也有把与组合电器配套生产的互感器称为组合式互感器。 电机振动的非接触频率分析。黄浦区激光干涉仪形貌测量

一次绕组可调,二次多绕组电流互感器。这种电流互感器的特点是变比量程多,而且可以变更,多见于高压电流互感器。其一次绕组分为两段,分别穿过互感器的铁心,二次绕组分为两个带抽头的、不同准确度等级的独自绕组。一次绕组与装置在互感器外侧的连接片连接,通过变更连接片的位置,使一次绕组形成串联或并联接线,从而改变一次绕组的匝数,以获得不同的变比。带抽头的二次绕组自身分为两个不同变比和不同准确度等级的绕组,随着一次绕组连接片位置的变更,一次绕组匝数相应改变,其变比也随之改变,这样就形成了多量程的变比。黄浦区激光干涉仪形貌测量角度和迴转测量,检测轴承间隙。

双频激光干涉仪:在氦氖激光器上,加上一个约0.03特斯拉的轴向磁场。由于塞曼分裂效应和频率牵引效应,激光器产生1和2两个不同频率的左旋和右旋圆偏振光。双频激光干涉仪是应用频率变化来测量位移的,这种位移信息载于f1和f2的频差上,对由光强变化引起的直流电平变化不敏感,所以抗干扰能力强。它常用于检定测长机、三坐标测量机、光刻机和加工中心等的坐标精度,也可用作测长机、高精度三坐标测量机等的测量系统。利用相应附件,还可进行高精度直线度测量、平面度测量和小角度测量。

不同变比电流互感器。这种型号的电流互感器具有同一个铁心和一次绕组,而二次绕组则分为两个匝数不同、各自独自的绕组,以满足同一负荷电流情况下不同变比、不同准确度等级的需要,例如在同一负荷情况下,为了保证电能计量准确,要求变比较小一些(以满足负荷电流在一次额定值的2/3左右),准确度等级高一些(如1K1.1K2为200/5.0.2级);而用电设备的继电保护,考虑到故障电流的保护系数较大,则要求变比较大一些,准确度等级可以稍低一点(如2K1.2K2为300/5.1级)。更多的测量轴有助于更多的旋转参数:偏心率,表面质量, 倾斜误差和径向运动。

半导体应变片:用于车辆等机械量测量的元件.半导体应变片是将单晶硅锭切片、研磨、腐蚀压焊引线,结尾粘贴在锌酚醛树脂或聚酰亚胺的衬底上制成的。是一种利用半导体单晶硅的压阻效应制成的一种敏感元件。利用半导体单晶硅的压阻效应制成的一种敏感元件,又称半导体应变片。压阻效应是半导体晶体材料在某一方向受力产生变形时材料的电阻率发生变化的现象(见压阻式传感器)。半导体应变片需要粘贴在试件上测量试件应变或粘贴在弹性敏感元件上间接地感受被测外力。超长距离测量,齿轮传动间隙测量。上海激光干涉仪胶路检测

但IDS3010干涉仪可诊断非接触式pm位移@ 10 MHz 安装的高功率激光反射镜。黄浦区激光干涉仪形貌测量

阻尼时间

1 热电系、热线系及静电系仪表,吊丝式仪表和指针长度大于150MM 的仪表,其可动部分的阻尼时间应不超过6S。其余的仪表应不超过4S。当被测量突然改变时,仪表指示器的前列次偏转值与稳定后的偏转值之比应不大于1.5。凡外电路电阻有规定范围时,当电阻在这个范围内变动时,其阻尼时间均应满足要求。

2 测定仪表指示器的阻尼时间时,应遵守规定。测定阻尼时间时,应自被测之量开始改变(或放回指示器)时起,至指示器离结尾静止位置不大于标度尺长度1%时止。在测定阻尼时间的同时,读取指示器前列次偏转值与稳定后的偏转值,然后求出其比值。测定阻尼时间的具体规定如下:A.单向标度尺仪表——自接入被测量至指示器偏转至标度尺几何中心附近时测定;B.双向对称标度尺仪表——自断开相当于标度尺最大值的被测量时测定;C.双向非对称标度尺仪表——自断开或接通相当于标度尺全长一半的被测量时测定;D.比率表和无机械零位标度尺仪表——自改变被测量使指示器由始点移至标度尺几何中心附近时测定。也允许接入约相当于标度尺几何中心的被测量,再将指示器用机械方法移至标度尺的始点或终点,然后放回指示器的方法测定。测定阻尼时间时应测三次,取其平均值。 黄浦区激光干涉仪形貌测量

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