[VIP第1年] 指数:3
测控技术与仪器优先领域
在基础研究的初期，对于能否有突破性进展是很难预测的。但是，当已经取得突破性进展时，则需要有一个转化机制以进入市场。
（1）纳米溯源技术和系统。
(2)介入安装和制造的坐标跟踪测量系统，上海激光干涉仪平面度测量。
关键理论和技术：超半球反射器(n=2或在机构上创新)，快速、多路干涉仪(频差3～5兆)，二维精密跟踪测角系统(0.2″～0.5″)，通用信号处理系统(工作频率5兆)，上海激光干涉仪平面度测量，上海激光干涉仪平面度测量，无导轨半导体激光测量系统(分辨率1μm)，热变形仿真，力变形仿真。 100pm/步的线性偏移被确定。上海激光干涉仪平面度测量
精密机械技术
专科大学的专业课程
精密机械技术是一个大学专业课程，培养掌握精密机械与仪器的基础理论和专业知识，事精密仪器与机械的设计制造，以及设备的测量控制和维护管理的高级技术应用性专门人才。
中枢能力：精密机械设计制造、信息处理、测量和控制的技能。
专业中枢课程与主要实践环节：机械设计基础、电工与电子学、互换性和技术测量、微机原理与应用、传感器、信号分析与处理、控制工程基础、工程光学基础、精密机械与仪器设计、精密机械制造工艺学、精密测量与控制、金工实习、电工电子实习、测试与检测实习、精密机械课程设计、毕业实习（设计）等，以及各校的主要特色课程和实践环节。 上海翘曲度激光干涉仪传感头的紧凑和模块化设计，以及柔性玻璃纤维使得能够在整个工作范围内快速安装和快速对齐。
激光干涉仪，以激光波长为已知长度，利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量。激光具有高的强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点。目前常用来测量长度的干涉仪，主要是以迈克尔逊干涉仪为主，并以稳频氦氖激光为光源，构成一个具有干涉作用的测量系统。激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来作线性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等测量工作，并可作为精密工具机或测量仪器的校正工作。英文名称：laser interferometer
(4)计算机辅助测量理论。信号处理系统的标准化、模块化、兼容和集成。例如，目前多数采用ISA总线、IEEE488口，今后计算机可能取消ISA总线，用于笔记本电脑的USB接口将广泛应用。过去，中国生产的仪器满足于数字显示，没有数据交换接口，难以进入国际市场。国外生产的仪器普遍配备IEEE488(GPIB)口。RS232：目前有可能成为替代物的高性能标准是USB、IEEE1394和VXI。在此转折期为我们提供了机遇。目前虚拟仪器的工作频段在千赫数量级，对于干涉信号处理显得太低，可以采取联合互补的方法形成模块系列，同时降低成本，从总体上提高研发工作的效率。根据已有基础，发展特长，有利于克服重复研究。创建了一个 CMM演示器，用于显示由IDS3010执行的CMM中的位置检测。
干涉仪技术参数：5D/6D标准型：1.线性：0.5ppm.2.测量范围：40米（1D可选80米）3.线性分辨力：0.001um.4.偏摆角和俯仰角的精度：（1.0+0.1/m）角秒或1%显示较大值5.比较大范围：800角秒6.滚动角精度：1.0角秒7.直线度精度：（1.0+0.2/m）um或1%显示较大值8.直线度比较大范围：500um9.垂直度精度：1角秒10.温度精度：0.2摄氏度11.湿度精度：5%12.压力精度：1mmHg
从激光器发出的光束，经扩束准直后由分光镜分为两路，并分别从固定反射镜和可动反射镜反射回来会合在分光镜上而产生干涉条纹。 LineCAL可实现亚微米精度的空间补偿。上海激光干涉仪平面度测量
轴的直径为10毫米，以每分钟2160转（RPM）旋转。上海激光干涉仪平面度测量
扩散型半导体应变片
这种应变片是将 P型杂质扩散到一个高电阻N型硅基底上，形成一层极薄的P型导电层，然后用超声波或热压焊法焊接引线而制成（图2）。它的优点是稳定性好，机械滞后和蠕变小，电阻温度系数也比一般体型半导体应变片小一个数量级。缺点是由于存在P-N结，当温度升高时，绝缘电阻大为下降。半导体应变片是将单晶硅锭切片、研磨、腐蚀压焊引线，结尾粘贴在锌酚醛树脂或聚酰亚胺的衬底上制成的。是一种利用半导体单晶硅的压阻效应制成的一种敏感元件。新型固态压阻式传感器中的敏感元件硅梁和硅杯等就是用扩散法制成的。 上海激光干涉仪平面度测量
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