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第二z轴移动组件24包括转矩电机240、高扭矩时规皮带241、两个同步带轮242、直线导轨243。转矩电机240固定于吸嘴基板232上，两个同步带轮242分别相对设置于吸嘴基板232的上下两侧，两个同步带轮242通过高扭矩时规皮带241相连，转矩电机240与其中一个同步带轮242相连。直线导轨243固定于吸嘴基板232上，嘉兴LED芯片测试机厂商，嘉兴LED芯片测试机厂商，真空吸嘴26通过滑块固定于直线导轨243上，滑块与高扭机时规皮带相连。转矩电机240驱动其中同步带轮242转动，嘉兴LED芯片测试机厂商，同步带轮242带动高扭矩时规皮带241转动，高扭矩时规皮带241通过滑块带动真空吸嘴26在直线导轨243上上下移动。在芯片测试机上进行的测试可以检测到芯片的缺陷，如电压偏移等。嘉兴LED芯片测试机厂商
存储器，芯片往往集成着各种类型的存储器（例如ROM/RAM/Flash），为了测试存储器读写和存储功能，通常在设计时提前加入BIST（Built-In SelfTest）逻辑，用于存储器自测。芯片通过特殊的管脚配置进入各类BIST功能，完成自测试后BIST模块将测试结果反馈给Tester。ROM（Read-Only Memory）通过读取数据进行CRC校验来检测存储内容是否正确。RAM（Random-Access Memory）通过除检测读写和存储功能外，有些测试还覆盖DeepSleep的Retention功能和Margin Write/Read等等。Embedded Flash除了正常读写和存储功能外，还要测试擦除功能。Wafer还需要经过Baking烘烤和Stress加压来检测Flash的Retention是否正常。还有Margin Write/Read、Punch Through测试等等。遵义LED芯片测试机市价芯片测试机可以提供精确的数据，帮助工程师快速理解芯片性能。
本发明的目的在于提供一种芯片测试机及芯片测试方法，本发明的芯片测试机的结构紧凑、体积较小，占地面积只一平米左右，可以满足小批量的芯片测试要求。其技术方案如下：本发明在一实施例中公开了一种芯片测试机。该芯片测试机包括机架，以及设置于机架上的移载装置、测试装置、自动上料装置、自动下料装置及不良品放置台，所述自动上料装置包括头一料仓及自动上料机构，所述自动上料机构在所述头一料仓内上下移动；所述自动下料机构包括第二料仓及自动下料机构，所述自动下料机构在所述第二料仓内上下移动，所述移载装置位于所述自动上料装置、自动下料装置、测试装置及不良品放置台的上方，所述移载装置将自动上料装置的待测试芯片移动至测试装置，并将测试完成的芯片移动至自动下料装置或不良品放置台，所述移载装置还将自动上料装置的空tray盘移动至自动下料装置。
本发明的芯片测试机还包括加热装置，部分型号的芯片在测试前可能需要进行高温加热或低温冷却。当待测试芯片移载至测试装置后，可以通过头一移动机构带动高温加热头移动至测试装置的上方，然后由下压机构带动高温加热头向下移动，并由高温加热头对芯片进行高温加热或低温冷却，满足对芯片高温加热或低温冷却的要求。加热装置还包括预加热缓存机构，当芯片需要进行高温测试的时候，为了提高加热效率，可以先将多个待测试芯片移动至预加热工作台的多个预加热工位进行预加热，在测试的时候，可以减少高温加热头加热的时间，提高测试效率。芯片测试机为从事集成电路设计的工程师提供了便捷的测试手段。
该测试方法包括以下步骤：s1：将多个待测试芯片放置于多个tray盘中，每一个tray盘中放置多个待测试芯片，将多个tray盘放置于自动上料装置40，并在自动下料装置50及不良品放置台60上分别放置一个空tray盘。例如每一个tray盘较多可放置50个芯片，则在自动上料装置40的每一个tray盘中放置50个芯片，然后可以将10个装满芯片的tray盘放置于自动上料装置40上，且10个tray盘上下叠放。s2：移载装置20从自动上料装置40的tray盘中取出待测试芯片移载至测试装置30进行测试。利用芯片测试机，可以加速检测过程并提高测试的准确性。重庆MINILED芯片测试机定制价格
芯片测试机包括测试头和测试座来测试芯片。嘉兴LED芯片测试机厂商
当芯片测试机启动后，移载装置20移动至自动上料装置40的上方，然后移载装置20向下移动吸取自动上料装置40位于较上方的tray盘中的芯片，将并该芯片移载至测试装置30对芯片进行测试。s3：芯片测试完成后，移载装置20将测试合格的芯片移载至自动下料装置50的空tray盘中，将不良品移载至不良品放置台60的空tray盘中。芯片测试完成后，该芯片可能是合格品，也可能是不良品。若该芯片为合格品，则通过移载装置20将该合格芯片移载至自动下料机的tray盘中放置；若该芯片为不良品，则将该不良品移载至不良品放置台60的tray盘中放置。嘉兴LED芯片测试机厂商
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