如果将纤维素酯薄膜浸泡在碱性溶液以便表面可以皂化至足够 提高薄膜和取向层之间的粘合,那么不仅目标表面而且其背对表面将 同时被皂化。因此,当由此处理的薄膜卷成卷时,上表面经常与卷的 下表面粘连。此外,用于皂化的浸泡过程几乎不能与施加亲水材料(例 如用于形成取向层的涂布液)的步骤同时进行,因此该浸泡过程必需 与用于形成取向层的涂布单独地进行。结果,皂化处理相对昂贵些。
另一方面,为了在纤维素酯薄膜上提供明胶-内涂层以提高薄膜 和取向层之间的粘合,通常使用用于形成内涂层的涂布液。该涂布液 含有易于使纤维素酯溶胀的溶剂(例如,酮),并因此经常损害薄膜表 面光滑度,尽管薄膜和取向层之间的粘合提高了。结果,在薄膜的纵 向易于出现条纹不匀性,苏州日本大冢轴角度测试仪,并因此造成显示不匀性,从而在将该薄膜用 于液晶显示器时使显示的图象质量更差。
如上所述,纤维素酯薄膜和取向层之间的粘合有待进一步提高,这种提高不应带来其它的麻烦(例如,薄膜在卷中不粘连),苏州日本大冢轴角度测试仪,同时薄膜 表面应保持光滑,苏州日本大冢轴角度测试仪。
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(纤维素酯) 该纤维素酯推荐具有200-700,更推荐具有250-550,比较好选具 有250-350的(粘度平均)聚合度。粘度平均聚合度可以用Ostwald粘 度计测定。由测定的具体粘度问,根据式:DP = [T]]/Km计算粘度平 均聚合度DP,其中Km是常数6x10-4。
纤维素酯可以*由新的薄片制得,但是推荐将用过的纤维素酯薄 膜的废物混合重新使用。废物的量是3-95重量%,推荐6-80重量%, 更推荐10-70重量%。
作为纤维素酯,推荐低级脂肪酸的纤维素酯。术语“低级脂肪酸” 意思是具有6个或更少碳原子的脂肪酸。碳原子的数量推荐是2(醋酸 纤维素酯)、3(丙酸纤维素酯)或4(丁酸纤维素酯)。特别推荐醋酸纤维 素酯,并且混合脂肪酸的纤维素酯如醋酸丙酸纤维素酯和醋酸丁酸纤 维素酯也是适宜的。
醋酸纤维素酯的平均醋酸含量(乙酰化度)推荐是55.0-62.5%。考 虑到薄膜性能,平均醋酸含量更推荐58.0-62.5%。然而,平均醋酸含 量为55.0-58.0%(推荐57.0-58.0%)醋酸纤维素酯薄膜沿厚度呈现高的 延迟值。
光学各向异性纤维素酯薄膜推荐具有_50至50 ran,更推荐-20至 20 nm的Re延迟值。
各向异性纤维素酯薄膜的Rth延迟值推荐是60-1,000 nm。
平面内的延迟值(Re)是平面内的双折射和薄膜厚度的乘积,并且 沿厚度的延迟值(Rth)是厚度方向的双折射与薄膜厚度的乘积。具体的 Re值可以通过将入射光(例如,从He-Ne激光器[波长:632.8 nm]发 出的光线)垂直施加到薄膜表面上的测定获得,并且具体的Rth值可 以通过入射光(例如,从He-Ne激光器[波长:632.8 nm]发出的光线) 倾斜施加到薄膜表面上的测定获得。在该测定中,使用偏振光椭圆率 测量仪(例如,M-150, JASCO公司)获得数据,然后外推得到这些延 迟值。
分别根据下式(1)和(2)计算平面内(Re)和沿厚度(Rth)的延迟值。
(1) Re = (nx-ny) x d
(2) Rth = [{(nx+ny)/2}-nz] x d。
在这些式中,nx是沿薄膜平面的慢轴的折光率,ny是沿薄膜平 面的快轴的折光率,nz是薄膜厚度方向的折光率,并且d是以nm计 的薄膜厚度。 测量波段:550nm单波段,上料方式:手动上料。
一种光学膜,其包括
至少一种提高ARe的湿度依存性改良剂,
其中,所述光学膜具有:
Re/Rth的比值,其随着在可见波长区的波长越长而越大;和
Re,其随着在可见波长区的波长越长而越大, 其中Re**光学膜的面内延迟(单位:nm);
Rth**光学膜在厚度方向上的延迟(单位:nm);和
△Re**由下式(1)定义的Re的湿度依存性:
式(1): ARe= | Re(550)10%RH-Re(550)80%RH |
其中Re(550)10%RH**在25°C温度和10%相对湿度下,550nm波长处 的Re;以及
Re(550)80%RH**在25°C温度和80%相对湿度下,550nm波长处的 Re。 可提供计量检测报告,验证设备可靠性。苏州轴角度测试仪
高精度轴角度相位差透过率,色度(La、 b),偏光度。苏州日本大冢轴角度测试仪
起偏振片保护膜用于保护偏振片(polarizing film)。在偏振片的两面提供 起偏振片保护膜以形成起偏振片。至今,通过光学补偿膜改善液晶显示器 的显示质量,该光学补偿膜是具有光学延迟膜的视角补偿膜。**近,光学 延迟膜的功能已被加入到起偏振片保护膜中。结果,起偏振片保护膜成为 多功能的,这导致部件的减少。
对于液晶显示器的显示质量,视角的补偿被改善。通过在扭曲向列(TN) 型液晶元件的两面提供盘状(discotic)液晶膜来改善液晶元件的视角特性 苏州日本大冢轴角度测试仪
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