[VIP第1年] 指数:3
3D测量系统MICROMESURE2
配置“点”传感器的MICROMESURE 2系统
MICROMESURE 2系统，配置CCS-PRIMA,STIL-DUO传感器，是非接触式表面测量的理想工具，包含3D粗糙度，形状测量和3D微观形貌。
MICROMESURE 2系统，充分利用了STIL非接触式传感器在各种应用和领域的***性能。
与配套的控制&采集硬件和软件一起交付，MICROMESURE 2系统是一套整机，启动后立刻执行（指令）。
借助光谱共焦传感器
●非接触式尺寸测量
●纳米和微米分辨
●白光传感器（***点，东莞高精度光谱共焦位移传感器口碑推荐，大测量范围）
●同轴测量（无阴影）
●镜面上的高局部斜率（反射式）
●对环境光不敏感
●可测量金属，玻璃，半导体，东莞高精度光谱共焦位移传感器口碑推荐，陶瓷和其他更多材料
●透明物体的厚度测量方式
●具有大测量范围能力（20μm-24mm）
借助高质量的扫描系统
●Z轴0.1μm编码器（系列产品）
●X&Y轴0.1μm编码器（可选择）
●低震动
●正交性和平面度校正
●透明的作业空间，东莞高精度光谱共焦位移传感器口碑推荐，避免气流震荡 司逖测量技术（上海）有限公司，值得您的信赖！东莞高精度光谱共焦位移传感器口碑推荐
将多种视觉信息相互交融，可以突破单一视觉信息获取的局限性，达到利用理想环境下停止和瞬间的视觉信息获取，达到认识杂乱客观国际的要求，主要研讨范畴为图画信息交融。在实践应用中，效率和功能十分重要，否则算法和体系无法走出实验室，因此，对机器视觉算**能评价的树立必不可少。能完成各种视觉任务的通用视觉信息体系，即树立类比于人类视觉体系功用的机器视觉体系，经过树立**视觉体系渠道，逐渐开展到完善的通用视觉体系，如视觉渠道，高度智能化的视觉机器人等。广州官方授权经销传感器什么价格充分了解客户实际需求。
STIL DUO双重技术“点”传感器
●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统：光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。
●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量，在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度，无论是反射还是散射。测量符合新ISO 25178标准。
●STIL的共焦光谱干涉测量法，可获得亚纳米分辨率(<1nm)的厚度和形貌测量结果，可在大于100um的测量范围内进行测量，且样品的zui小可测厚度为0.4um。
●完美适用于工业环境，许多输入和输出以及软件开发套件，接口非常简单。
光谱共聚焦模式
●使用Multipeak软件进行多层样品测量
白光光谱干涉模式
●振动不敏感度（OPILB-RP光学笔）
●高信噪比（OPILB-RP光学笔）
●不需垂直扫描
●zui小可测厚度0.4um
●光学原理固有的亚纳米分辨率
●共焦使相邻点之间无干扰
●厚度测量上具有出色性能（0.3nm分辨率，10nm精度）
光谱共焦位移传感器——STIL 3D测量系统
Micromesure是一个模块化非接触式测量站，专门用于gao分辨率3D微型拓扑图以及形状和纹理分析。
它可以测量物体的轮廓或表面以及透明材料的厚度。
配置MPLS180-DM传感器的MICROMESURE2
l 3个光学头可选择：NanoView，MicroView和DeepView
l MPLS180的流量非常高，大面积测量的持续时间可从几小时缩短到几分钟（或几秒）！
l 包含**软件：LineSensorMap
技术特点
●是MPLS，CCS和CHR传感器的集成；
●可测量任何材料；
●无需样品制备；
●系统完全自动化；
●模块化架构；
●传感器自动选择；
●高精确度和平直度。
基于光谱共焦传感器：
●非接触式尺寸测量；
●纳米和微米分辨率；
●白光传感器（wu斑点，测量范围宽）；
●同轴测量（无阴影）；
●镜面（反光）表面上的局部高斜坡；
●对环境光不敏感；
●可以测量金属，玻璃，半导体，陶瓷...等；
●透明物体厚度&形状测量；
●测量范围宽（从20微米到24毫米）。
基于高质量扫描系统：
●Z轴上，0,1μm编码器（系列产品）；
●X和Y轴上，0,1μm编码器（可选）；
●低振动；
●正交和平坦度校正；
●透明的工作间，避免空气震动。
司逖测量技术（上海）有限公司，光谱共焦传感器业界领先！
自动化生产概念的推广以及人力成本的逐渐增加，都导致机械代替人工是必然的趋势。视觉检测作为 的检测方法，在代替人工检测方面具有较大优势，应用前景较好，然而国内视觉检测尚处于起步阶段，竞争力有待提高。 觉检测是用仪器代替人眼对物体进行测量和判断，将被检测目标转换成图像信号，并传送给**的图像处理系统，根据像素的分布、颜色和亮度等信息转变成数字化信号。通过对信号进行处理来识别目标的特征，从而实现对现场的设备动作的控制。我们对精密测量的热情，驱使我们彻底改变纳米级运动和分析。东莞高精度光谱共焦位移传感器维修
STIL完美解决测量位置错位问题，欢迎咨询。东莞高精度光谱共焦位移传感器口碑推荐
共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。什么是光谱共焦干涉仪？非接触式轮廓测量技术中的测量精度，通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰，STIL开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统，干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理STIL干涉测量法基于白光干涉图（SAWLI）的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号，以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起，机械振动不会影响测量结果。此外，该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。可测厚度为μm。 东莞高精度光谱共焦位移传感器口碑推荐
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