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STIL光学笔介绍

CL-MG系列光学笔

●兼容所有STIL传感器

●测量范围：100μm至24mm

●距离模式分辨率：zui小5nm

●zui小测量厚度：7μm

●包含CL和MG两个组件，北京色散共焦传感器排名靠前，可根据测量运用需要提供多达15种组合

OP系列光学笔

●兼容所有STIL传感器

●测量范围广：300μm至100mm

●距离模式分辨率：zui小25nm

●测量的zui小厚度：zui小25μm

OPILB系列光学笔

●兼容STIL-DUO

●对振动不敏感

●测量zui小厚度：0，北京色散共焦传感器排名靠前，北京色散共焦传感器排名靠前.4μm

●厚度模式分辨率：轴向分辨率0.3nm&j精度10nm

司逖测量技术(上海）有限公司

颠覆传统激光三角测距法

全新测量原理的光谱共焦传感器 用激光控制涂层厚度，更好地管理涂层工艺。北京色散共焦传感器排名靠前

对非预期缺点的识别，在应用中，往往是给定一些具体的缺点模式，使用机器视觉来识别它们到底有没有发生，但经常遇到的情况是，许多明显的缺点，因为之前没有发生过，或者发生的模式过分多样，而被漏检。如果换做是人，虽然在操作流程文件中没让他去检测这个缺点，但是他会注意到，从而有较大几率抓住它，而机器视觉在这点上的“智慧”目前还较难突破。机器视觉是一门学科技术，是一门涉及人工智能、神经生物学、心理物理学、计算机科学、图像处理、模式识别等诸多领域的交叉学科。机器视觉是指利用相机、摄像机等传感器，配合机器视觉算法赋予智能设备人眼的功能，从而进行物体的识别、检测、测量等功能。北京质量传感器维修价格司逖测量技术（上海）有限公司，值得您的信赖！

光谱共焦显微镜MC2视觉检测

        光谱共聚焦显微镜（STIL-SA的**）是一种允许设计大焦深（几毫米）光学系统的技术。对于扩展深度范围内的任何样品，这些系统都能提高清晰的、高质量和完美聚焦图像。该技术结合了光谱编码和传统共聚焦显微镜的优点。光谱共聚焦显微镜由多色光源照射的裂缝、高质量光谱透镜、光束分离器、线性B&W光电探测器组成。

STIL产品具有所有光谱共焦显微镜的优势

2014年产品提供4种光学头型号供选择：DeepView，MicroView，NanoView，WireView

双重作用：

●按照所需放大率，提供样本表面的高质量图片

●为检测和分析一些预定义特征或纹理特征，对图片经行处理

优势：

此技术结合线阵相机，形成了MC2视觉检测系统，完美地解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的痛点，具有明显的优势：

●无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；

●环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；

●适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明体表面；

●高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸（zui小像素可达0.2X0.2μm²）；

●比较高可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行z轴对焦。

        共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。什么是光谱共焦干涉仪？非接触式轮廓测量技术中的测量精度，通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰，STIL开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统，干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理STIL干涉测量法基于白光干涉图（SAWLI）的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号，以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起，机械振动不会影响测量结果。此外，该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。可测厚度为μm。 无论什么颜色，物体表面是漫反射或者高光面，乃至于镜面，STIL光谱共焦传感器都可轻松测量。

针对市场零件生产越来越趋于精密化，而用人成本不断增高，人工效率及稳定性也不高，误检、漏检比率高。在目前的市场，推出基于机器视觉检测的方法，检测原理是通过CCD工业相机拍照，软件进行图像分析，这种方法 、高速、非接触的检测。例如螺丝螺母对于品质要求极为严格，而且，螺丝螺母的使用量一般都很大，一般都是大批量生产，这时外观检测依靠人工是完全应付不过来的，所以只能采用视觉检测设备来进行品质检测。实现的过程如下，采集图像→图像预处理→轮廓匹配→位置补正→螺纹检测→数据判断→数值显示。使用STIL DUO控制器及多层测厚软件，可以轻松测量多达9层透明物体的厚度。北京质量传感器定做价格

上海岱珂机电设备有限公司是一家专业从事进口机电设备、仪器仪表及高精度检测设备的现代化企业。北京色散共焦传感器排名靠前

光谱共焦位移传感器——STIL 3D测量系统

Micromesure是一个模块化非接触式测量站，专门用于gao分辨率3D微型拓扑图以及形状和纹理分析。

 它可以测量物体的轮廓或表面以及透明材料的厚度。

配置MPLS180-DM传感器的MICROMESURE2 

l 3个光学头可选择：NanoView，MicroView和DeepView

l MPLS180的流量非常高，大面积测量的持续时间可从几小时缩短到几分钟（或几秒）！

l 包含**软件：LineSensorMap

技术特点

●是MPLS，CCS和CHR传感器的集成；

●可测量任何材料；

●无需样品制备；

●系统完全自动化；

●模块化架构；

●传感器自动选择；

●高精确度和平直度。

  

基于光谱共焦传感器：

●非接触式尺寸测量；

●纳米和微米分辨率；

●白光传感器（wu斑点，测量范围宽）；

●同轴测量（无阴影）；

●镜面（反光）表面上的局部高斜坡；

●对环境光不敏感；

●可以测量金属，玻璃，半导体，陶瓷...等；

●透明物体厚度&形状测量；

●测量范围宽（从20微米到24毫米）。

 

基于高质量扫描系统：

●Z轴上，0,1μm编码器（系列产品）；

●X和Y轴上，0,1μm编码器（可选）；

●低振动；

●正交和平坦度校正；

●透明的工作间，避免空气震动。

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司逖测量技术（上海）有限公司是一家仪器仪表, 光谱共焦位移传感器, 光谱共焦技术, 光谱共焦成像, 玻璃测量仪器, 透明材质测量仪器, 同轴测量仪器, 纳米级测量仪器, 厚度测量仪器, 色散共聚焦传感器, 3D玻璃测量, 精密测量, 段差测量, 厚度测量的公司，是一家集研发、设计、生产和销售为一体的专业化公司。司逖测量作为仪器仪表, 光谱共焦位移传感器, 光谱共焦技术, 光谱共焦成像, 玻璃测量仪器, 透明材质测量仪器, 同轴测量仪器, 纳米级测量仪器, 厚度测量仪器, 色散共聚焦传感器, 3D玻璃测量, 精密测量, 段差测量, 厚度测量的企业之一，为客户提供良好的光谱共焦位移传感器，玻璃测量仪器，光谱共焦传感器，纳米级测量仪器。司逖测量继续坚定不移地走高质量发展道路，既要实现基本面稳定增长，又要聚焦关键领域，实现转型再突破。司逖测量始终关注仪器仪表市场，以敏锐的市场洞察力，实现与客户的成长共赢。

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