[VIP第1年] 指数:3
STIL DUO双重技术“点”传感器
●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统：光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。
●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量，在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度，无论是反射还是散射。测量符合新ISO 25178标准。
●STIL的共焦光谱干涉测量法，可获得亚纳米分辨率(<1nm)的厚度和形貌测量结果，可在大于100um的测量范围内进行测量，且样品的zui小可测厚度为0.4um。
●完美适用于工业环境，许多输入和输出以及软件开发套件，接口非常简单。
光谱共聚焦模式
●使用Multipeak软件进行多层样品测量
白光光谱干涉模式
●振动不敏感度（OPILB-RP光学笔）
●高信噪比（OPILB-RP光学笔）
●不需垂直扫描
●zui小可测厚度0.4um
●光学原理固有的亚纳米分辨率
●共焦使相邻点之间无干扰
●厚度测量上具有出色性能（0.3nm分辨率，10nm精度）
为了适应市场的发展需求，为现代工业的发展提供检测的依据，上世纪九十年代，精密检测仪器正式进入中国的国内市场，成为一个新兴的以检测为主的产业。在进入国内市场的 初，精密检测仪器的发展并不如我们想象中的那么顺利，因为它毕竟是属于新兴的产业，我们很多人都没有接触过，并不知道它的未来发展会如何。随着社会的不断发展，国内的工业水平也在不断的提升，因此，简单的投影仪已经无法满足市场和行业的需求，在这种情况下，二次元影像测量仪就成为了行业发展的必然产品，它为产品的复杂检测提供了坚实的基础。
司逖测量技术(上海)有限公司是法国stil公司在中国的销售公司。法国stil公司为全球各行企业提供高性能 光谱共焦位移传感器（chromatic confocal sen）已经超过25年。为应对公司在中国市场快速增长的需求，2016年stil成立了中国销售公司，即司逖测量技术（上海）有限公司，我们在华东(上海浦东新区)及华南(东莞长安中心区)分别设有总公司及办事处，两地均交通便捷、物流发达，以便更好地为中国客户提供优质的售前售后服务。 作为光谱共焦传感器的发明者及全球领先者，法国stil公司基于这一创新的技术开发了两个系列的产品：从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器。 这些高分辨率的非接触式传感器可运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析，到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，及实验室研究场合的高精度设备，法国stil光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。 法国stil光谱共焦位移传感器为全球各行业（可应用行业范围：玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业…等）企业提供高性能的光谱共焦位移传感器。任何材料的物体，如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等，stil光谱共焦传感器都可轻松测量，而且对被测物体表面的颜色和光洁度也没有任何特殊要求，无论什么颜色，物体表面是漫反射或者高光面，乃至于镜面，stil光谱共焦传感器都可以轻松测量。
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